散光計檢測
散光計檢測摘要：散光計檢測是評估光學元件及成像系統(tǒng)像散特性的關(guān)鍵手段,，重點涵蓋曲率半徑、軸位偏差、表面不規(guī)則度等核心參數(shù)。本文依據(jù)ISO8980-2、ASTME2175等國際標準,，系統(tǒng)闡述檢測項目,、適用材料,、實驗方法及專業(yè)設(shè)備選型,，適用于鏡片制造,、精密儀器等領(lǐng)域的質(zhì)量控制需求。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
檢測項目
像散值測量：檢測最大像散差值（±0.05D精度）
軸位偏差分析：主經(jīng)線軸位偏移量（誤差范圍±1°）
曲率半徑誤差：基弧/后頂焦度偏差（±0.02mm分辨率）
表面不規(guī)則度：PV值檢測（精度0.1μm）
透射波前畸變：RMS值檢測（λ/[email protected]）
檢測范圍
光學鏡片：樹脂/玻璃材質(zhì)單光/漸進鏡片
角膜接觸鏡：RGP/軟性隱形眼鏡
攝像頭模組：手機/安防鏡頭光學組件
精密光學儀器：顯微鏡物鏡,、望遠鏡目鏡組
汽車燈具：LED透鏡、前照燈反光碗
檢測方法
ISO 8980-2:2021
漸進鏡片像散分布測量規(guī)范,，規(guī)定25點網(wǎng)格采樣法
ASTM E2175-18
軸位校準標準,，要求使用十字標靶投影法
ISO 10344:2020
曲率半徑干涉測量法，采用Fizeau干涉儀系統(tǒng)
ISO 10110-5:2015
表面不規(guī)則度評價,，定義PV值與RMS值轉(zhuǎn)換公式
檢測設(shè)備
| 設(shè)備型號 | 技術(shù)參數(shù) | 功能模塊 |
|---|---|---|
| Topcon LM-8000 | 測量精度±0.01D 重復性CV≤0.2% | 自動對中系統(tǒng),、多波長光源（546nm/633nm） |
| NIDEK ARK-1 | 曲率半徑誤差±0.005mm 采樣率2000點/秒 | 3D表面重構(gòu)、Zernike多項式分析 |
| Zeiss IOLMaster 700 | 波長范圍380-780nm 軸向分辨率0.1μm | SS-OCT掃描模塊,、動態(tài)瞳孔跟蹤 |
技術(shù)優(yōu)勢
中析儀器 資質(zhì)
中析散光計檢測 - 由于篇幅有限,，僅展示部分項目，如需咨詢詳細檢測項目,，請咨詢在線工程師
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