參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質的個人除外),。

檢測項目

主成分純度：采用面積歸一化法測定≥99.5%,，檢測限0.01%

溴元素含量：理論值42.7-43.2%，允許偏差±0.3%

熔點范圍：標準值148-151℃,，熱分析儀測定精度±0.5℃

揮發(fā)性雜質：甲苯殘留＜100ppm,，二氯甲烷＜50ppm

水分含量：卡爾費休法測定≤0.1%（w/w）

檢測范圍

有機合成中間體：醫(yī)藥原料藥合成反應體系質量控制

電子材料：半導體封裝材料的鹵素含量驗證

高分子材料：阻燃劑配方中溴元素的定量分析

科研試劑：標準物質定值及穩(wěn)定性研究

工業(yè)催化劑：負載型催化劑的活性成分檢測

檢測方法

氣相色譜法（GC-FID）：ASTM D5399-09測定揮發(fā)性雜質，DB-5毛細管柱（30m×0.32mm×0.25μm）

高效液相色譜法（HPLC-UV）：ISO 17034:2016主成分分析,，C18色譜柱（250×4.6mm,，5μm）

X射線熒光光譜法（XRF）：JIS K0119:2017溴元素定量，Rh靶材,，40kV管電壓

熱重分析法（TGA）：ASTM E1131-20測定熱穩(wěn)定性,，升溫速率10℃/min

卡爾費休庫侖法：ISO 760:2022微量水分測定，電解電流400mA

檢測設備

Agilent 7890B氣相色譜儀：配備FID檢測器,，支持0.1ppm級雜質檢測

Shimadzu LC-20AT高效液相色譜儀：二極管陣列檢測器,，波長范圍190-900nm

Bruker S8 TIGER X射線熒光光譜儀：4kW功率，硅漂移探測器（SDD）

Mettler TGA/DSC3+熱分析系統(tǒng)：±0.1μg稱量精度,，溫度范圍25-1100℃

Metrohm 917 Coulometric Karl Fischer：分辨率0.1μg H?O,，支持固體直接進樣

技術優(yōu)勢

通過CNAS（CNAS L12345）和CMA（2023000123）雙認證

配備ISO/IEC 17025:2017標準質量體系控制實驗室環(huán)境

檢測團隊含5名博士、12名碩士組成的技術專家組

定期參與LGC,、ERM等國際標準物質比對驗證

配置Class 100潔凈室用于痕量級雜質分析

中析儀器 資質