參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

自由光譜范圍（FSR）：檢測(cè)相鄰諧振峰波長(zhǎng)間隔，范圍通常為10 GHz–1 THz,，誤差≤±0.5%,。

精細(xì)度（Finesse）：表征諧振峰銳度，典型值50–10,000,，檢測(cè)重復(fù)性誤差≤±3%,。

透射譜線寬（FWHM）：測(cè)量半高全寬，精度需達(dá)0.1 pm（皮米級(jí)）,。

腔長(zhǎng)穩(wěn)定性：溫度波動(dòng)±1℃下,，腔長(zhǎng)變化≤0.1 nm，時(shí)間穩(wěn)定性測(cè)試≥24小時(shí),。

反射鏡損耗：?jiǎn)午R反射率≥99.9%,，吸收/散射損耗≤50 ppm。

檢測(cè)范圍

光學(xué)薄膜諧振腔：用于激光穩(wěn)頻,、光譜分析,，要求膜層均勻性≤±0.1% RMS。

光纖FP腔：適用于分布式傳感系統(tǒng),，檢測(cè)端面拋光粗糙度≤0.5 nm,。

微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）諧振腔：檢測(cè)機(jī)械形變與光學(xué)性能耦合效應(yīng)。

量子光學(xué)冷原子腔：超高精細(xì)度（Finesse>10^4）與真空兼容性驗(yàn)證,。

集成光子芯片諧振腔：硅基或氮化硅材料,，測(cè)試模式體積與Q值關(guān)系。

檢測(cè)方法

檢測(cè)設(shè)備

高分辨率光譜儀（型號(hào)：Bristol 721A）：波長(zhǎng)分辨率0.01 pm,，用于FSR與線寬測(cè)量,。

激光干涉儀（型號(hào)：Zygo Verifire MST）：腔長(zhǎng)穩(wěn)定性檢測(cè),，重復(fù)精度0.05 nm。

光功率計(jì)（型號(hào)：Newport 2936-R）：動(dòng)態(tài)范圍-70 dBm至+27 dBm,，用于損耗分析,。

傅里葉紅外光譜儀（型號(hào)：Thermo Scientific Nicolet iS50）：反射率測(cè)試波段覆蓋250 nm–25 μm。

環(huán)境試驗(yàn)箱（型號(hào)：Espec SH-642）：溫控范圍-70℃~+180℃,，用于腔體熱穩(wěn)定性評(píng)估,。

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)