入射輻射檢測(cè)摘要:入射輻射檢測(cè)是評(píng)估材料或產(chǎn)品在特定輻射環(huán)境下性能穩(wěn)定性的關(guān)鍵技術(shù)手段,涉及光譜分布、輻射強(qiáng)度,、能量吸收等核心參數(shù),。本文系統(tǒng)闡述檢測(cè)項(xiàng)目、適用范圍,、標(biāo)準(zhǔn)方法及設(shè)備配置,,重點(diǎn)關(guān)注光學(xué)特性分析、熱效應(yīng)模擬及輻射耐受性驗(yàn)證,,為工業(yè)研發(fā)與質(zhì)量控制提供科學(xué)依據(jù),。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
光譜輻射通量測(cè)量:波長(zhǎng)范圍200-2500nm,,分辨率±0.5nm,,測(cè)量誤差≤1.5%
輻射強(qiáng)度空間分布檢測(cè):角度分辨率0.1°,動(dòng)態(tài)范圍0.01-1000 W/m2
材料吸收率測(cè)定:紅外波段(2.5-25μm)吸收系數(shù)檢測(cè),,精度達(dá)0.01
輻射熱效應(yīng)評(píng)估:熱流密度0-50 kW/m2,,溫升速率監(jiān)測(cè)靈敏度±0.2℃/s
長(zhǎng)期輻照穩(wěn)定性測(cè)試:持續(xù)輻射時(shí)間100-5000小時(shí),光強(qiáng)波動(dòng)控制≤2%
光學(xué)薄膜材料:包括增透膜,、反射膜,、濾光片等鍍膜制品
光伏組件:涵蓋晶硅、薄膜太陽(yáng)能電池及封裝材料
航天熱控涂層:低吸收-發(fā)射比(α/ε)特種涂料
建筑玻璃制品:Low-E玻璃,、夾層玻璃等透光建材
輻射防護(hù)材料:含鉛橡膠,、硼聚乙烯等屏蔽材料
ASTM E972:透光材料太陽(yáng)光透射率標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
ISO 9050:建筑玻璃光熱參數(shù)測(cè)定規(guī)范
GB/T 17683.1:太陽(yáng)輻射光譜測(cè)量通用要求
IEC 61215:地面用晶體硅光伏組件設(shè)計(jì)鑒定測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
MIL-STD-810G:軍用設(shè)備太陽(yáng)輻射環(huán)境試驗(yàn)程序
光譜輻射計(jì)OL 750:雙光柵單色儀結(jié)構(gòu),波長(zhǎng)精度±0.1nm,,配備積分球附件
太陽(yáng)模擬器SS150A:AM1.5G光譜匹配度A級(jí),,輻照不均勻度<2%
紅外熱像儀FLIR T865:熱靈敏度0.03℃,空間分辨率1.31 mrad
熱流計(jì)Medtherm 64系列:量程0-100 kW/m2,,響應(yīng)時(shí)間<0.1秒
加速老化試驗(yàn)箱Q-SUN Xe-3:氙燈功率6500W,,溫控范圍10-80℃
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析入射輻射檢測(cè) - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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