參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

元素組成分析：采用X射線熒光光譜法（XRF）測(cè)定Al?O?,、SiO?等氧化物含量,，檢測(cè)精度±0.1wt%

相結(jié)構(gòu)鑒定：通過(guò)X射線衍射（XRD）分析α-Al?O?、γ-Al?O?等晶型占比,，分辨率≤0.02°

顯微硬度測(cè)試：維氏硬度計(jì)測(cè)量HV0.3值,，載荷300gf，保載時(shí)間15s

熱膨脹系數(shù)測(cè)定：高溫膨脹儀檢測(cè)20-1500℃范圍內(nèi)CTE值,，升溫速率5℃/min

孔隙率檢測(cè)：壓汞法測(cè)定孔徑分布,，測(cè)量范圍3nm-1000μm，壓力0.1-60000psi

檢測(cè)范圍

高溫合金熔析層：鎳基/鈷基合金表面Al?O?,、Cr?O?氧化膜

耐火材料析出相：鎂鋁尖晶石（MgAl?O?）,、莫來(lái)石（3Al?O?·2SiO?）

焊接熔池結(jié)晶物：Fe-Cr-Ni系金屬間化合物

鑄造偏析產(chǎn)物：鋁合金中β-AlFeSi相，檢測(cè)尺寸≥5μm

粉末冶金燒結(jié)相：WC-Co硬質(zhì)合金η相（Co?W?C）

檢測(cè)方法

ASTM E1479-16：電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）測(cè)定痕量元素

ISO 4503:2021：金相法定量評(píng)估析出相面積占比,，誤差≤2%

GB/T 4340.1-2009：顯微硬度測(cè)試規(guī)程,，環(huán)境溫度控制23±5℃

ISO 11357-3:2018：差示掃描量熱法（DSC）測(cè)定相變溫度

GB/T 1423-1996：阿基米德法測(cè)定密度，介質(zhì)為去離子水

檢測(cè)設(shè)備

Thermo Fisher ARL QUANT'X EDXRF：能量色散X射線熒光光譜儀,，檢測(cè)元素范圍Be-U

Rigaku SmartLab XRD：高分辨率X射線衍射儀,，配備HyPix-3000二維探測(cè)器

Wilson Wolpert 432SVD：全自動(dòng)顯微硬度計(jì)，50×物鏡,，數(shù)字圖像處理系統(tǒng)

NETZSCH DIL 402C：推桿式熱膨脹儀,，最大樣品長(zhǎng)度50mm，溫度精度±0.1℃

Micromeritics AutoPore V 9600：全自動(dòng)壓汞儀,，512壓力數(shù)據(jù)采集點(diǎn)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)