參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

成分分布偏差分析：測定材料中目標(biāo)元素（如Cr,、Ni等）在晶界/相界處的偏聚度（±0.5at%）

晶界偏聚系數(shù)計(jì)算：基于FEG-SEM數(shù)據(jù)計(jì)算Γ=Ci/C0值（精度±0.03）

元素濃度梯度測定：通過APT三維重構(gòu)分析納米級濃度梯度（分辨率0.3nm）

析出相尺寸統(tǒng)計(jì)：統(tǒng)計(jì)第二相顆粒尺寸分布（檢測范圍5nm-50μm）

擴(kuò)散激活能建模：基于Arrhenius方程計(jì)算元素遷移能（誤差率<3%）

檢測范圍

金屬合金：高溫合金（Inconel 718）,、鋁合金（AA7075）的晶界偏析

半導(dǎo)體材料：硅晶圓摻雜元素（B,、P）的擴(kuò)散偏聚

高分子復(fù)合材料：碳纖維/環(huán)氧樹脂界面相容性評估

陶瓷材料：ZrO2-Al2O3復(fù)相陶瓷晶界偏析檢測

涂層材料：熱障涂層（YSZ）元素互擴(kuò)散行為分析

檢測方法

SEM-EDS面分布分析：依據(jù)ASTM E1188標(biāo)準(zhǔn),，采用10kV加速電壓下進(jìn)行微區(qū)成分掃描

原子探針層析技術(shù)（APT）：按ISO 22309規(guī)范進(jìn)行三維原子重構(gòu)（檢測效率>5×10? atoms/min）

透射電鏡（TEM）：參照ASTM E2090進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析（點(diǎn)分辨率0.19nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)