偏振相關增益測試摘要:偏振相關增益測試是評估光學器件偏振敏感特性的關鍵檢測項目,主要針對光纖放大器,、激光晶體等材料在不同偏振態(tài)下的增益變化,。測試涵蓋波長范圍,、增益穩(wěn)定性,、偏振消光比等核心參數(shù),依據(jù)ASTM,、ISO等國際標準確保數(shù)據(jù)可靠性,,為光通信、激光系統(tǒng)設計提供關鍵性能驗證依據(jù),。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。
波長相關增益波動測試(1525-1625nm,±0.5dB)
偏振態(tài)(SOP)敏感性測試(0-360°偏振角掃描,,分辨率0.1°)
增益偏振相關損耗(PDL,,0.1-3.0dB動態(tài)范圍)
偏振消光比測試(PER≥30dB,波長容差±0.2nm)
溫度穩(wěn)定性測試(-40℃至+85℃,,增益變化≤±0.8dB)
摻鉺光纖放大器(EDFA)模塊
釔鋁石榴石(YAG)激光晶體
二氧化硅基光學薄膜器件
保偏光纖耦合器
半導體光放大器(SOA)芯片
ASTM F2215-13:光纖放大器偏振相關特性測試規(guī)程
ISO/IEC 61291-5:光放大器-第5部分:偏振相關參數(shù)
GB/T 18310.48-2001:光纖器件偏振特性測量方法
IEC 62343-6-2:動態(tài)模塊-偏振相關增益測試規(guī)范
TIA-455-203-A:光纖系統(tǒng)偏振特性測量程序
Keysight N7788B偏振分析儀(1200-1650nm,,0.005dB分辨率)
EXFO FTB-5240S-P偏振控制器(掃描速率1000rad/s)
Thorlabs PAX1000VIS/M偏振測量系統(tǒng)(精度±0.1°)
Yokogawa AQ6370D光譜分析儀(0.02nm波長精度)
Newport 2936-R光功率計(-70dBm至+3dBm量程)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質:旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務。
中析偏振相關增益測試 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師