盤式開關(guān)測(cè)試摘要:盤式開關(guān)作為電力系統(tǒng)中關(guān)鍵控制元件,,其性能直接影響設(shè)備安全運(yùn)行,。本文依據(jù)國際及國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn),系統(tǒng)性闡述盤式開關(guān)的檢測(cè)項(xiàng)目,、方法及設(shè)備,,涵蓋電氣特性、機(jī)械壽命、環(huán)境適應(yīng)性等核心指標(biāo),,重點(diǎn)解析絕緣電阻,、接觸電阻、溫升試驗(yàn)等關(guān)鍵參數(shù)的測(cè)試規(guī)范,,為行業(yè)提供標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)技術(shù)參考,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。
絕緣電阻測(cè)試:DC 500V條件下≥100MΩ(GB/T 14048.1-2020)
接觸電阻測(cè)試:≤50μΩ(ASTM B539-2018)
機(jī)械壽命測(cè)試:≥10,000次操作循環(huán)(IEC 60947-3:2020)
溫升試驗(yàn):額定電流下觸點(diǎn)溫升≤55K(GB/T 14048.4-2020)
耐壓強(qiáng)度測(cè)試:AC 2500V/1min無擊穿(IEC 60664-1:2020)
防護(hù)等級(jí)測(cè)試:IP65防塵防水驗(yàn)證(ISO 20653:2013)
鹽霧腐蝕測(cè)試:5% NaCl溶液連續(xù)噴霧96h(GB/T 2423.17-2008)
金屬外殼盤式開關(guān)(鋁合金/不銹鋼材質(zhì))
塑料外殼盤式開關(guān)(PA66/PBT復(fù)合材料)
陶瓷絕緣體盤式開關(guān)(95%氧化鋁陶瓷)
合金觸點(diǎn)開關(guān)(AgSnO2/CuCr材料)
高溫型盤式開關(guān)(工作溫度-40℃~150℃)
絕緣電阻測(cè)試:GB/T 14048.1-2020附錄C
接觸電阻測(cè)量:ASTM B539-2018四線法
機(jī)械壽命試驗(yàn):IEC 60947-3:2020第7.2.4條款
溫升特性測(cè)試:GB/T 14048.4-2020第8.3.3.3條
鹽霧試驗(yàn):GB/T 2423.17-2008中性鹽霧法
防護(hù)等級(jí)驗(yàn)證:ISO 20653:2013第9章IP代碼測(cè)試
耐壓試驗(yàn):IEC 60664-1:2020表F.1基本絕緣要求
絕緣電阻測(cè)試儀:KEYSIGHT 6517B(測(cè)量范圍10^3~10^16Ω)
接觸電阻測(cè)試系統(tǒng):HIOKI RM3545(0.01μΩ分辨率)
機(jī)械壽命試驗(yàn)臺(tái):SCHALTBAU SBT-5000(最大操作力500N)
熱成像儀:FLIR T865(精度±1℃/±1%)
鹽霧試驗(yàn)箱:ASCOTT S450-F(溫度控制±0.5℃)
耐壓測(cè)試儀:HIPOTRONICS HPO-40(0~5kV可調(diào))
防護(hù)等級(jí)測(cè)試裝置:HAIDA HD-IPX56(水壓0.3MPa)
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析盤式開關(guān)測(cè)試 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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