參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

曲率半徑偏差檢測(cè)：允許公差±2mm/㎡

表面平整度檢測(cè)：最大波峰波谷差≤1.5mm

動(dòng)態(tài)載荷強(qiáng)度檢測(cè)：循環(huán)載荷≥500MPa

焊縫滲透檢測(cè)：缺陷檢出率≥99.5%

材料厚度均勻性檢測(cè)：公差范圍±0.8mm

檢測(cè)范圍

建筑穹頂結(jié)構(gòu)：鋁合金/鋼結(jié)構(gòu)穹頂

壓力容器封頭：不銹鋼/鈦合金半球體

航空航天整流罩：碳纖維復(fù)合材料殼體

汽車沖壓件：高強(qiáng)度鋼車身覆蓋件

風(fēng)力發(fā)電機(jī)艙罩：玻璃鋼曲面組件

檢測(cè)方法

ASTM E177：非接觸式三維坐標(biāo)測(cè)量法

ISO 10109-5：光學(xué)干涉表面形貌分析

GB/T 228.1-2021：液壓伺服疲勞試驗(yàn)

GB/T 11345-2013：相控陣超聲波檢測(cè)

ISO 6507-1：顯微硬度梯度測(cè)試

檢測(cè)設(shè)備

FARO Focus S 350：激光掃描精度±1mm/10m

Zeiss COMET L3D2：光學(xué)測(cè)量分辨率5μm

Instron 5985：最大載荷600kN動(dòng)態(tài)測(cè)試

Olympus Omniscan MX3：64晶片陣列探頭

Mitutoyo Crysta-Apex S：三坐標(biāo)重復(fù)精度0.6μm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)