光波導(dǎo)檢測(cè)摘要:光波導(dǎo)檢測(cè)是評(píng)估光學(xué)器件性能的核心環(huán)節(jié),,涉及傳輸損耗,、折射率分布、幾何精度等關(guān)鍵參數(shù),。本文系統(tǒng)闡述光波導(dǎo)的標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)流程,,涵蓋通信級(jí)石英光波導(dǎo)、聚合物光波導(dǎo)等材料的測(cè)試方法及設(shè)備選型要求,,重點(diǎn)解析ASTM E2093,、GB/T 18310等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)規(guī)范。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
1.傳輸損耗:波長(zhǎng)范圍1260-1650nm內(nèi)單模損耗≤0.5dB/cm
2.折射率分布:橫向分辨率≤1μm,縱向精度0.0005
3.幾何尺寸:芯徑公差0.5μm,,包層同心度偏差<0.2μm
4.溫度穩(wěn)定性:-40℃~85℃環(huán)境下?lián)p耗變化<0.1dB/km℃
5.偏振特性:偏振相關(guān)損耗PDL≤0.05dB@1550nm
1.石英玻璃基平面光波導(dǎo)(PLC)芯片
2.聚合物柔性光波導(dǎo)薄膜(POF)
3.硅基光子集成光路(PIC)器件
4.光纖陣列耦合組件(FAU)
5.微結(jié)構(gòu)光子晶體光纖(PCF)
ASTME2093-16:采用截?cái)喾y(cè)量光波導(dǎo)傳輸損耗
ISO14782:2019:基于干涉顯微術(shù)的折射率分布分析
GB/T18310.4-2017:光纖器件幾何參數(shù)測(cè)量規(guī)范
IEC61757-1:2020:光纖傳感器溫度特性測(cè)試方法
TIA-455-220-A:偏振模色散(PMD)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)流程
1.EXFOFTB-5700光譜分析儀:波長(zhǎng)精度10pm@1550nm
2.ZYGOVerifireMST干涉儀:4D折射率分布測(cè)量系統(tǒng)
3.KeysightN7788B偏振分析儀:PDL測(cè)量分辨率0.001dB
4.OZOpticsLDC-4006耦合效率測(cè)試臺(tái):定位精度0.1μm
5.AnritsuMT9810A光時(shí)域反射計(jì)(OTDR):動(dòng)態(tài)范圍45dB@1625nm
6.ThorlabsPAX1000偏振控制器:波長(zhǎng)覆蓋1200-1700nm
7.LunaOBR4600背向散射儀:空間分辨率10μm
8.MitutoyoMF-U系列顯微測(cè)量系統(tǒng):放大倍率500X~2000X
9.EspecPL-3KFP恒溫恒濕箱:溫控精度0.5℃
10.HamamatsuC12741-03近紅外相機(jī):InGaAs傳感器
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測(cè)周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析光波導(dǎo)檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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