不變形顆粒檢測摘要:不變形顆粒檢測是材料科學(xué)與工業(yè)制造領(lǐng)域的關(guān)鍵質(zhì)量控制環(huán)節(jié),,重點(diǎn)在于評(píng)估顆粒在加工及使用過程中維持幾何形態(tài)的能力。核心檢測指標(biāo)包括粒徑分布,、球形度,、密度均勻性等參數(shù),需結(jié)合國際標(biāo)準(zhǔn)與精密儀器完成數(shù)據(jù)采集與分析,,適用于金屬粉末,、高分子材料、陶瓷原料等多元場景,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
粒徑分布:測量D10(1-5μm)、D50(10-50μm),、D90(50-200μm)
球形度偏差:要求≥0.85(1為理想球體)
密度均勻性:波動(dòng)范圍≤±2%
表面粗糙度:Ra值≤0.8μm
抗壓強(qiáng)度:臨界值≥50MPa(視材料類別調(diào)整)
金屬粉末:316L不銹鋼粉末,、鈦合金粉體
高分子顆粒:ABS樹脂顆粒、PEEK工程塑料粒子
陶瓷原料:氧化鋁微球,、氮化硅粉末
醫(yī)藥輔料:微晶纖維素球,、硬脂酸鎂顆粒
電子材料:焊錫球(直徑0.1-0.76mm)、導(dǎo)電銀漿顆粒
ASTM B822:金屬粉末粒度分析標(biāo)準(zhǔn)方法
ISO 13322-1:靜態(tài)圖像分析法測定顆粒形態(tài)
GB/T 19077:粒度分布激光衍射法
ASTM D4179:單個(gè)球形顆??箟簭?qiáng)度測定
GB/T 10516:亞甲藍(lán)吸附法測比表面積
激光粒度分析儀:Malvern Mastersizer 3000(測量范圍0.01-3500μm)
動(dòng)態(tài)圖像分析系統(tǒng):Retsch CAMSIZER X2(形態(tài)學(xué)參數(shù)測量)
掃描電子顯微鏡:JEOL JSM-IT800(表面形貌觀察,,分辨率3nm)
萬能材料試驗(yàn)機(jī):Instron 5967(壓力范圍0.02-30kN)
真密度分析儀:Micromeritics AccuPyc II 1340(氦氣置換法)
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析不變形顆粒檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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