參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

頻率響應(yīng)范圍：10 Hz - 40 GHz,，分辨率≤1 kHz

相位角線性度：全頻段偏差≤±0.5°

溫度穩(wěn)定性：-40℃至+85℃環(huán)境下的相位漂移量

諧波失真度：基頻信號二次/三次諧波抑制比≥60 dBc

群時延一致性：相鄰頻點時延差異≤2 ps

檢測范圍

高頻電子陶瓷材料（如微波介質(zhì)基板）

高分子聚合物復(fù)合材料（PTFE基高頻基材）

金屬薄膜涂層（射頻屏蔽材料）

光學(xué)鍍膜器件（紅外濾波片）

半導(dǎo)體晶圓（GaN/SiC功率器件）

檢測方法

矢量網(wǎng)絡(luò)分析法：ASTM E1876-15, GB/T 11313-2015

阻抗頻率掃描法：ISO 6721-5:2019

時域反射測量法：IEC 61196-1:2020

鎖相放大器相位檢測：GB/T 17626-2017

高溫高濕加速老化測試：MIL-STD-202H Method 108

檢測設(shè)備

Keysight E5061B網(wǎng)絡(luò)分析儀：頻率范圍5 Hz-3 GHz，支持S參數(shù)相位校準(zhǔn)

Rohde & Schwarz ZNB40矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：40 GHz上限頻率,，時域門控功能

Agilent 4294A精密阻抗分析儀：40 Hz-110 MHz,，0.05°相位分辨率

Chroma 19032-C高溫試驗箱：溫控精度±0.5℃，支持循環(huán)沖擊測試

Anritsu MF2400C光波分析系統(tǒng)：支持1550 nm波段光學(xué)相位特性測量

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)