參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

鈰元素含量：CeO? 占比（0.5%-15.0%），誤差范圍±0.03%

礦物晶胞參數(shù)：a軸（8.88-8.92?）,，b軸（5.62-5.68?）,，c軸（10.22-10.30?）

化學(xué)成分分析：SiO?（35-42%）、Al?O?（18-24%）,、Fe?O?（5-12%）

密度測(cè)定：3.35-3.45 g/cm3（25℃恒溫條件）

微量元素檢測(cè)：La,、Nd、Pr等稀土雜質(zhì)總量＜0.8%

檢測(cè)范圍

稀土礦物原礦及精礦

石油裂解催化劑載體

高溫陶瓷釉料添加劑

特種玻璃光學(xué)材料

地質(zhì)勘查巖心樣品

檢測(cè)方法

X射線(xiàn)熒光光譜法（XRF）：ASTM C1234-18,，GB/T 14506.28-2010

粉末X射線(xiàn)衍射法（XRD）：ISO 18274:2020,，GB/T 17417.1-2010

電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）：GB/T 3884.12-2022

電子探針微區(qū)分析（EPMA）：ASTM E1588-20

熱重-差熱聯(lián)合分析（TG-DTA）：ISO 11358:2022

檢測(cè)設(shè)備

Thermo Scientific ARL PERFORM'X XRF光譜儀：0.001%元素檢測(cè)限

Bruker D8 ADVANCE XRD衍射儀：0.0001°角度分辨率

PerkinElmer NexION 350D ICP-MS：ppt級(jí)痕量檢測(cè)能力

JEOL JXA-8530F EPMA：5nm空間分辨率

NETZSCH STA 449 F5同步熱分析儀：0.1μg質(zhì)量檢測(cè)靈敏度

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)