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集總組件環(huán)行器檢測

2025-03-12 關(guān)鍵詞:集總組件環(huán)行器測試機構(gòu),集總組件環(huán)行器測試標準,集總組件環(huán)行器測試儀器 相關(guān):
集總組件環(huán)行器檢測

集總組件環(huán)行器檢測摘要:集總組件環(huán)行器檢測需通過系統(tǒng)性測試驗證其高頻性能與可靠性,。核心檢測項目涵蓋插入損耗,、隔離度,、駐波比等關(guān)鍵參數(shù),檢測范圍包括鐵氧體基材,、金屬導(dǎo)體等材料類型。檢測過程嚴格遵循ISO,、IEC及GB/T標準,,采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等專業(yè)設(shè)備完成定量分析,確保器件在通信系統(tǒng)中的穩(wěn)定性和耐久性,。

參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

插入損耗:≤0.5dB@1-6GHz頻段

端口隔離度:≥20dB@中心頻率±10%帶寬

電壓駐波比:≤1.25:1(全頻段)

功率容量:≥50W連續(xù)波(25℃環(huán)境)

溫度循環(huán)特性:-40℃~+85℃循環(huán)50次后參數(shù)漂移≤10%

檢測范圍

鐵氧體基材環(huán)形器

金屬導(dǎo)體微帶線結(jié)構(gòu)

陶瓷介質(zhì)封裝組件

高分子材料絕緣層

釹鐵硼磁性材料組件

檢測方法

高頻特性測試:IEC 61169-1-2013射頻連接器測量方法

溫度試驗:GB/T 2423.22-2012環(huán)境試驗第2部分:試驗N溫度變化

振動測試:ISO 28704-2016精細陶瓷材料振動疲勞試驗

材料分析:GB/T 16533-2020微波鐵氧體材料性能測試方法

耐久性測試:ASTM D4138-2017電子元件加速老化試驗規(guī)程

檢測設(shè)備

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(Keysight N5245B):0.01dB精度,,頻率范圍10MHz-50GHz

高低溫試驗箱(ESPEC T-240):溫控范圍-70℃~+180℃,變溫速率15℃/min

微波功率計(Rohde&Schwarz NRP18T):最大測量功率100W,,頻率范圍10MHz-18GHz

三軸振動臺(LDS V964):最大加速度100g,,頻率范圍5-3000Hz

頻譜分析儀(R&S FSW67):分析帶寬500MHz,相位噪聲-140dBc/Hz@10kHz偏移

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期:7~15工作日,,可加急。

資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試:支持定制化試驗方案。

售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)

中析集總組件環(huán)行器檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師

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