集總組件環(huán)行器檢測
集總組件環(huán)行器檢測摘要：集總組件環(huán)行器檢測需通過系統(tǒng)性測試驗證其高頻性能與可靠性,。核心檢測項目涵蓋插入損耗,、隔離度,、駐波比等關(guān)鍵參數(shù)，檢測范圍包括鐵氧體基材,、金屬導(dǎo)體等材料類型。檢測過程嚴格遵循ISO,、IEC及GB/T標準,，采用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀等專業(yè)設(shè)備完成定量分析，確保器件在通信系統(tǒng)中的穩(wěn)定性和耐久性,。
參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。
注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
檢測項目
插入損耗：≤0.5dB@1-6GHz頻段
端口隔離度：≥20dB@中心頻率±10%帶寬
電壓駐波比：≤1.25:1（全頻段）
功率容量：≥50W連續(xù)波（25℃環(huán)境）
溫度循環(huán)特性：-40℃~+85℃循環(huán)50次后參數(shù)漂移≤10%
檢測范圍
鐵氧體基材環(huán)形器
金屬導(dǎo)體微帶線結(jié)構(gòu)
陶瓷介質(zhì)封裝組件
高分子材料絕緣層
釹鐵硼磁性材料組件
檢測方法
高頻特性測試：IEC 61169-1-2013射頻連接器測量方法
溫度試驗：GB/T 2423.22-2012環(huán)境試驗第2部分：試驗N溫度變化
振動測試：ISO 28704-2016精細陶瓷材料振動疲勞試驗
耐久性測試：ASTM D4138-2017電子元件加速老化試驗規(guī)程
檢測設(shè)備
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（Keysight N5245B）：0.01dB精度,，頻率范圍10MHz-50GHz
高低溫試驗箱（ESPEC T-240）：溫控范圍-70℃~+180℃，變溫速率15℃/min
微波功率計（Rohde&Schwarz NRP18T）：最大測量功率100W,，頻率范圍10MHz-18GHz
三軸振動臺（LDS V964）：最大加速度100g,，頻率范圍5-3000Hz
頻譜分析儀（R&S FSW67）：分析帶寬500MHz，相位噪聲-140dBc/Hz@10kHz偏移
北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】
報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期：7~15工作日,，可加急。
資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試：支持定制化試驗方案。
售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。
中析儀器 資質(zhì)
中析集總組件環(huán)行器檢測 - 由于篇幅有限，僅展示部分項目,，如需咨詢詳細檢測項目,，請咨詢在線工程師
相關(guān)檢測
聯(lián)系我們
熱門檢測
30335
-
化學(xué)檢測
2024-08-24
-
汽車漆面檢測
2024-08-24
-
礦石檢測
2024-08-24
-
調(diào)料配方分析
2024-08-24
-
農(nóng)藥檢測
2024-08-24
-
朱砂檢測
2021-03-15
-
硅碳棒檢測
2023-06-28
