高純硼粉檢測摘要:高純硼粉檢測是確保材料性能與安全性的關(guān)鍵環(huán)節(jié),主要涵蓋純度,、雜質(zhì)元素、粒度分布,、氧含量及晶型結(jié)構(gòu)等核心指標,。檢測過程需依據(jù)ASTM、ISO,、GB/T等國際及國家標準,,結(jié)合ICP-MS、XRD等先進技術(shù),,為核工業(yè),、電子器件、高溫合金等領(lǐng)域提供可靠數(shù)據(jù)支持,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
純度檢測:硼含量≥99.9%(質(zhì)量分數(shù))
雜質(zhì)元素分析:Fe、Al,、Si等痕量元素≤100ppm
粒度分布測試:D50范圍0.5-5μm,,D90≤10μm
氧含量測定:總氧量≤1000ppm(惰性氣體熔融法)
晶型結(jié)構(gòu)分析:α相與β相比例(XRD半定量)
核工業(yè)用硼粉(中子吸收材料)
電子級硼粉(半導體摻雜材料)
金屬陶瓷復合材料(燒結(jié)添加劑)
高溫合金添加劑(耐腐蝕涂層)
醫(yī)藥級硼粉(靶向治療制劑)
ICP-MS法(ASTM E1941-04):痕量金屬元素定量
惰性氣體熔融法(ISO 18114:2015):氧氮氫聯(lián)測
激光衍射法(GB/T 19077-2016):粒度分布測定
X射線衍射法(GB/T 4325-2013):物相結(jié)構(gòu)鑒定
庫侖滴定法(GB/T 223.82-2018):總硼含量測定
Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS:0.1ppb級元素分析
Malvern Mastersizer 3000:0.01-3500μm粒度測試
Bruker D8 ADVANCE XRD:2θ角0-160°全譜掃描
LECO ONH836:氧含量檢測精度±1ppm
JEOL JSM-7900F場發(fā)射SEM:1nm分辨率形貌觀測
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù),。
中析高純硼粉檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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