參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測項(xiàng)目

膜層厚度：范圍0.5-25μm，誤差≤±0.2μm

成分分析：鎳含量≥85%,，硫化物3-8%,，碳≤1.5%

結(jié)合力：劃痕法測試，附著力等級(jí)≥4B（ASTM D3359）

耐腐蝕性：中性鹽霧試驗(yàn)（NSS）≥96小時(shí)無基體腐蝕

表面形貌：孔隙率≤5個(gè)/cm2,，粗糙度Ra≤0.8μm

檢測范圍

電子產(chǎn)品：連接器,、屏蔽罩、散熱片

汽車零部件：緊固件,、傳感器外殼,、裝飾條

航空航天：導(dǎo)電環(huán)、射頻組件,、耐高溫部件

五金工具：扳手,、鉗口、模具表面

醫(yī)療器械：手術(shù)器械,、內(nèi)窺鏡部件,、植入物基材

檢測方法

膜層厚度：X射線熒光法（ASTM B568）、金相顯微鏡法（ISO 1463）

成分分析：能譜儀EDS（GB/T 17359）,、電感耦合等離子體光譜法（ICP-OES，GB/T 20127）

結(jié)合力：膠帶剝離法（GB/T 5270）,、熱震試驗(yàn)（ISO 2819）

耐腐蝕性：鹽霧試驗(yàn)（ISO 9227）,、電化學(xué)阻抗譜（ASTM G106）

表面形貌：掃描電鏡SEM（GB/T 17722）、白光干涉儀（ISO 25178）

檢測設(shè)備

X射線熒光光譜儀（型號(hào)XRF-2000）：非破壞性厚度與成分分析

掃描電子顯微鏡（型號(hào)JSM-IT800）：表面形貌觀測及元素分布成像

鹽霧試驗(yàn)箱（型號(hào)CCT-1000）：模擬腐蝕環(huán)境,，符合NSS/CASS標(biāo)準(zhǔn)

顯微硬度計(jì)（型號(hào)HVS-1000Z）：鍍層硬度測試（載荷0.1-1kgf）

電化學(xué)工作站（型號(hào)CHI760E）：極化曲線與阻抗譜分析

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)