參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

尺寸公差檢測(cè)：孔徑公差±0.02mm,，平面度≤0.05mm

材料硬度檢測(cè)：布氏硬度180-220 HBW,，洛氏硬度HRC 20-25

表面粗糙度檢測(cè)：Ra≤3.2μm，關(guān)鍵配合面Ra≤1.6μm

裂紋與氣孔檢測(cè)：缺陷深度≤0.5mm,，長(zhǎng)度≤2mm

形位公差檢測(cè)：同軸度≤φ0.03mm,，垂直度≤0.05mm/100mm

檢測(cè)范圍

球墨鑄鐵后差速器殼（QT400-18、QT600-3）

合金鋼殼體（42CrMo,、40Cr）

鋁合金殼體（A356-T6,、ADC12）

鑄鋼殼體（ZG310-570）

粉末冶金復(fù)合材料殼體（Fe-Cu-C系）

檢測(cè)方法

ASTM E18-22：金屬材料洛氏硬度試驗(yàn)

ISO 6507-1:2023：金屬維氏硬度測(cè)試

GB/T 231.1-2018：金屬布氏硬度試驗(yàn)

ISO 1101:2017：幾何公差檢測(cè)規(guī)范

GB/T 9445-2020：無(wú)損檢測(cè)人員資格鑒定

ISO 4287:1997：表面粗糙度參數(shù)測(cè)量

檢測(cè)設(shè)備

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（Mitutoyo Crysta-Apex S）：精度±1.5μm，支持復(fù)雜曲面掃描

布氏硬度計(jì)（Wilson 5000）：載荷范圍10-3000kg,，符合ASTM E10

表面粗糙度儀（Mitutoyo SJ-410）：分辨率0.01μm,，可測(cè)Ra/Rz/Rt參數(shù)

磁粉探傷儀（Yoke T-2000）：靈敏度A1型試片30/100顯示

光譜分析儀（Olympus Innov-X X-5000）：可檢測(cè)C、Si,、Mn等12種元素

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)