參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項(xiàng)目

接觸電阻：測量靜態(tài)接觸電阻（≤10mΩ）與動態(tài)變化率（±5%）

硬度：顯微維氏硬度（HV0.1，范圍50-300HV）

耐腐蝕性：中性鹽霧試驗(yàn)（48h,，腐蝕面積≤5%）

抗電弧侵蝕性：電弧能量（5-50A/10-100V）下的材料損耗率（≤0.1mg/千次）

溫升特性：額定電流下觸點(diǎn)溫升（ΔT≤75K）

檢測范圍

銀基合金觸點(diǎn)：AgCdO15,、AgNi10等低壓電器材料

銅基復(fù)合材料：CuCr40、CuW70等高負(fù)載觸點(diǎn)

金基復(fù)合材料：AuNi9,、AuCo5等精密接插件

鎢基材料：WCu30,、WAg50等高壓開關(guān)觸點(diǎn)

復(fù)合鍍層材料：AgSnO2（鍍層厚度10-50μm）

檢測方法

接觸電阻測試：ASTM B667四探針法/GB/T 5587-2016

硬度檢測：ISO 6507-1顯微維氏硬度法/GB/T 4340.1

鹽霧試驗(yàn)：ISO 9227中性鹽霧標(biāo)準(zhǔn)/GB/T 2423.17

電弧壽命測試：IEC 60413/GB/T 14048.1-2023

溫升試驗(yàn)：UL 1059溫升曲線法/GB/T 14048.4

檢測設(shè)備

Keysight 34461A四探針電阻測試儀：接觸電阻測量精度±0.02%

Mitutoyo HM-200顯微硬度計：0.1-1000HV量程,，光學(xué)放大500×

Q-Fog CCT鹽霧試驗(yàn)箱：溫度波動度±1℃，噴霧沉降量1.5mL/h

AMETEK CTS-100電弧模擬系統(tǒng)：最大通斷電流200A,，電壓1kV

FLIR A655sc紅外熱像儀：熱靈敏度0.03℃,，空間分辨率640×480

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)