參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

鈾（U）含量測(cè)定：檢測(cè)范圍0.1-99.9%（w/w），誤差≤±0.5%

鎳（Ni）含量測(cè)定：檢測(cè)范圍0.05-50.0%（w/w）,，檢測(cè)限0.01%

晶體結(jié)構(gòu)分析：XRD法測(cè)定晶胞參數(shù)（a=10.23?,，c=5.42?）

痕量雜質(zhì)檢測(cè)：包括Fe、Cr,、Pb等金屬雜質(zhì)（檢測(cè)限0.001-0.1ppm）

熱穩(wěn)定性測(cè)試：TG-DSC聯(lián)用,，溫度范圍25-1000℃（升溫速率10℃/min）

檢測(cè)范圍

核工業(yè)材料：核燃料元件涂層、反應(yīng)堆結(jié)構(gòu)材料

催化劑：有機(jī)合成用鈾鎳復(fù)合催化劑

化學(xué)試劑：高純度醋酸鈾鎳標(biāo)準(zhǔn)品（純度≥99.99%）

電子元件：耐輻射半導(dǎo)體涂層材料

科研樣品：新型鈾鎳配位化合物實(shí)驗(yàn)室合成產(chǎn)物

檢測(cè)方法

元素定量分析：GB/T 14506.3-2010（ICP-MS法）,、ASTM C1234-2015

晶體結(jié)構(gòu)表征：ISO 17862:2019（XRD法）,、GB/T 23413-2009

雜質(zhì)檢測(cè)：GB/T 12690.5-2015（ICP-OES法）、ISO 11885:2007

熱性能測(cè)試：GB/T 19466.2-2004（TG-DSC法）,、ASTM E1131-2020

溶液pH值測(cè)定：ISO 10523:2012（電位滴定法）

檢測(cè)設(shè)備

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）：Thermo Scientific iCAP RQ,，分辨率0.3amu，元素檢測(cè)限≤0.1ppt

X射線衍射儀（XRD）：Bruker D8 Advance,，角度范圍5-140°（2θ）,，步長(zhǎng)0.02°

熱重-差示掃描量熱聯(lián)用儀（TG-DSC）：NETZSCH STA 449 F5，溫度精度±0.1℃

原子吸收光譜儀（AAS）：PerkinElmer PinAAcle 900T,，波長(zhǎng)范圍190-900nm

傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）：Agilent Cary 630,，波數(shù)范圍4000-250cm?1

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)