鏡頭面型檢測(cè)摘要:鏡頭面型檢測(cè)是光學(xué)元件質(zhì)量控制的核心環(huán)節(jié),,主要針對(duì)曲率半徑,、面形偏差,、局部缺陷等關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行精密測(cè)量,。通過高精度干涉儀與輪廓儀等設(shè)備結(jié)合國際標(biāo)準(zhǔn)方法,確保鏡頭在成像精度,、光軸一致性及環(huán)境適應(yīng)性方面滿足工業(yè)級(jí)應(yīng)用需求,。
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
曲率半徑偏差:±0.05% @632.8nm波長基準(zhǔn)
面形偏差PV值:≤λ/4(λ=632.8nm)
局部斜率誤差:<0.5μrad RMS
非球面系數(shù)偏離度:Δk≤1×10??
邊緣塌邊量:≤3μm@有效孔徑95%區(qū)域
光學(xué)玻璃材質(zhì)球面/非球面透鏡
樹脂模壓非球面鏡片
紅外硫系玻璃透鏡
微透鏡陣列(MLA)器件
自由曲面醫(yī)用內(nèi)窺鏡物鏡
ASTM E903-20:光學(xué)元件表面質(zhì)量干涉測(cè)量規(guī)范
ISO 10110-5:2015:光學(xué)元件面形公差標(biāo)注規(guī)范
GB/T 2831-2021:光學(xué)零件面形偏差測(cè)試方法
ISO 14997:2012:光學(xué)表面缺陷定量評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 7661-2009:光學(xué)零件曲率半徑測(cè)量方法
Zygo Verifire MST+激光干涉儀:波長632.8nm,,分辨率0.1nm PV值測(cè)量
Taylor Hobson PGI 3D輪廓儀:Z軸分辨率0.8nm的非接觸式三維形貌分析
Trioptics OptiCentric雙光路中心偏測(cè)量系統(tǒng):角度精度±15"的光軸一致性檢測(cè)
Mitutoyo CMM-Crysta Apex S坐標(biāo)測(cè)量機(jī):空間精度(1.9+L/250)μm的幾何參數(shù)測(cè)定
4D Technology PhaseCam干涉儀:動(dòng)態(tài)范圍±150μm的高速瞬態(tài)面形捕捉
報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。
檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急,。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。
非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù)。
中析鏡頭面型檢測(cè) - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2021-03-15
2023-06-28