自由空間法測介電常數(shù)檢測摘要:自由空間法測介電常數(shù)是一種非接觸式微波測量技術,,適用于高頻段(1-40GHz)下材料電磁特性的精確分析,。核心檢測參數(shù)包括復介電常數(shù)實部(ε')與虛部(ε'')、損耗角正切(tanδ)及頻率響應特性。該方法需嚴格校準系統(tǒng)誤差并控制環(huán)境溫濕度,,確保數(shù)據(jù)重復性誤差≤3%,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
復介電常數(shù)實部(ε'):測量范圍1.0-50.0
復介電常數(shù)虛部(ε''):分辨率0.001
損耗角正切(tanδ):精度±0.0005
頻率響應特性:1-40 GHz連續(xù)掃頻
溫度依賴性:-40℃至+150℃溫控測試
材料厚度影響:0.5-20 mm樣品適應性
微波吸收材料:鐵氧體/碳基復合材料
高溫結(jié)構(gòu)陶瓷:氮化硅/碳化硅基板
高分子介質(zhì)薄膜:PTFE/聚酰亞胺基材
雷達隱身涂層:多層阻抗?jié)u變結(jié)構(gòu)
半導體基板:GaN/SiC晶圓片
ASTM D5568-22:高頻電磁場下材料參數(shù)測量標準
ISO 13421:2015:微波頻段自由空間法實施規(guī)范
GB/T 12636-2021:微波介質(zhì)特性測量通用要求
GB/T 31845-2015:高溫介質(zhì)材料測試方法
IEC 61189-3-719:2020:印制電路基材介電特性測試
矢量網(wǎng)絡分析儀:Keysight N5227B(10 MHz-67 GHz)
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,可加急,。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。
非標測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務。
中析自由空間法測介電常數(shù)檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,請咨詢在線工程師
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2021-03-15
2023-06-28