鏡頭慧差如何進(jìn)行檢測摘要:鏡頭慧差是光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量的重要評價指標(biāo)之一,其檢測需通過專業(yè)儀器與標(biāo)準(zhǔn)化流程完成,。本文從慧差的定義出發(fā),,系統(tǒng)闡述包括波前像差分析,、MTF測試等核心檢測項目及參數(shù)要求,,列舉典型應(yīng)用場景下的材料與產(chǎn)品類型,并依據(jù)ISO,、GB/T等國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范說明具體檢測方法及設(shè)備選型方案,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
慧差系數(shù)(λ):量化彗星狀光斑的畸變程度(0.05-0.5λ)
MTF值(調(diào)制傳遞函數(shù)):30 lp/mm空間頻率下≥0.6
波前像差RMS值:≤λ/14(@632.8nm)
離軸光斑橢圓率:≤5%(視場角±15°)
色差補償偏差:±3μm(可見光波段)
光學(xué)玻璃透鏡(BK7, Fused Silica等)
樹脂非球面鏡片(PC, PMMA材質(zhì))
手機攝像頭模組(6P/7P結(jié)構(gòu))
工業(yè)機器視覺鏡頭(FA鏡頭)
醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)系統(tǒng)
ISO 9334:2012《光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量評價方法》
ISO 9039:2008《光學(xué)系統(tǒng)波像差測定》
GB/T 9917.1-2020《光學(xué)零件表面疵病檢驗方法》
ASTM E2175-01(2021)《光學(xué)調(diào)制傳遞函數(shù)測量規(guī)程》
GB/T 12085.4-2022《光學(xué)系統(tǒng)環(huán)境試驗方法》
Trioptics ImageMaster HR Pro:MTF測試精度±0.02@50 lp/mm
ZYGO Verifire HDX激光干涉儀:波長632.8nm,,PV重復(fù)性<λ/200
SIGMAKOKI OSMS-30光學(xué)平臺:隔振頻率≤1.5Hz,,平面度±0.02mm/m2
Cohu 1200HS高分辨率CMOS測試相機:像素尺寸2.2μm,幀率120fps
Optikos LensCheck系列光具座:焦距測量精度±0.05%
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析鏡頭慧差如何進(jìn)行檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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