參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

泄漏率測(cè)試：閾值范圍1×10??~1×10?12 Pa·m3/s

密封性驗(yàn)證：保壓時(shí)間≥30min/壓降≤5%

真空度穩(wěn)定性：波動(dòng)值≤±5% @10?? Pa

氦氣殘留量：背景濃度≤5×10?? mbar·L/s

溫度循環(huán)測(cè)試：-40℃~+150℃交變驗(yàn)證

多通道同步檢測(cè)：支持≥8通道并行分析

檢測(cè)范圍

航空航天：發(fā)動(dòng)機(jī)燃料管路/艙門(mén)密封件/航天器熱控系統(tǒng)

半導(dǎo)體設(shè)備：晶圓傳輸腔室/刻蝕反應(yīng)腔/真空機(jī)械手

醫(yī)療器械：血液透析器/植入式器械封裝/高壓氧艙

新能源部件：燃料電池雙極板/鋰電池外殼/儲(chǔ)氫罐焊縫

工業(yè)閥門(mén)：球閥閥座/波紋管密封/超高壓截止閥

檢測(cè)方法

ASTM E493-22：真空箱法氦泄漏標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試規(guī)程

ISO 20486:2017：密封元件最小可檢漏率測(cè)定方法

GB/T 12604.7-2021：無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ) 泄漏檢測(cè)

GB/T 34632-2017：真空技術(shù) 氦質(zhì)譜檢漏儀校準(zhǔn)規(guī)范

MIL-STD-750-4：軍用電子器件氦密封試驗(yàn)方法

檢測(cè)設(shè)備

氦質(zhì)譜檢漏儀：Leybold PHOENIX L300i（分辨率0.1μg/yr）

真空測(cè)試腔體：Cincinnati VACUTEST VX-2000（容積2m3/極限真空5×10?? Pa）

多通道采集系統(tǒng)：INFICON HLD5000（16通道/響應(yīng)時(shí)間＜0.1s）

溫控系統(tǒng)：Thermotron SM-32C（-70℃~+180℃/變溫速率15℃/min）

數(shù)據(jù)記錄儀：Agilent 34972A（6?位分辨率/1000通道擴(kuò)展）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)