參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項目

反向偏置漏電流（Reverse Bias Leakage）：測量電壓范圍5-100V DC下泄漏電流值（nA~μA級）

絕緣電阻（Insulation Resistance）：施加500V DC時阻值≥10^12Ω

溫度特性漂移（ΔI@T）：-55℃~150℃溫區(qū)內(nèi)漏電流變化率≤15%

介質(zhì)耐壓（Dielectric Withstand）：AC 2500V/60s無擊穿現(xiàn)象

表面離子污染度（Ionic Contamination）：Na+含量≤1.56μg/cm2（IPC-TM-650 2.3.25）

檢測范圍

QFP/LQFP封裝銅合金引腳

BGA封裝錫銀焊球陣列

SOP封裝修形鍍金引線框架

TO系列功率器件鋁基引腳

晶圓級CSP封裝微凸點結(jié)構(gòu)

檢測方法

GB/T 4937-2023《半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法》第3.5節(jié)

IEC 60749-27:2020半導(dǎo)體器件濕熱偏置試驗規(guī)范

JESD22-A114F靜電放電敏感度分級標準

ASTM F1241-22表面絕緣電阻測試規(guī)程

ISO 14647:2023微電子器件潔凈度評估方法

檢測設(shè)備

Keysight B1500A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀：支持10fA~1A量程的精密電流測量

Tektronix PA3000高阻計：可測最高10^16Ω絕緣電阻值

ESPEC SH-642恒溫恒濕箱：溫度精度±0.5℃，濕度波動度±2%RH

Chroma 19032耐壓測試儀：輸出AC 5kV/DC 6kV介質(zhì)擊穿試驗

PVA TePla Contaminometer CCM600離子色譜分析系統(tǒng)：分辨率0.01μg/cm2

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)