參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

線徑偏差檢測(cè)：測(cè)量范圍10-50μm，允許公差±0.5μm

抗拉強(qiáng)度測(cè)試：標(biāo)距長(zhǎng)度25mm,，加載速率5mm/min

延伸率測(cè)定：斷裂伸長(zhǎng)率要求≥15%

表面粗糙度分析：Ra值≤0.1μm（金線）/≤0.2μm（銅合金線）

結(jié)合力測(cè)試：剪切力≥50gf（25μm線徑）

檢測(cè)范圍

貴金屬鍵合線：金線（Au≥99.99%）,、銀線（Ag≥99.95%）

合金鍵合線：銅合金線（Cu≥99.7%）、鋁硅合金線（Si含量1%）

復(fù)合鍍層線材：鈀包銅線（Pd層厚度≥0.05μm）

功率器件鍵合線：直徑50-500μm的鋁帶/銅帶

高溫鍵合材料：鉑銥合金線（Ir含量10%-20%）

檢測(cè)方法

ASTM E384-22：微壓痕硬度測(cè)試方法

ISO 6892-1:2019：金屬材料拉伸試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4340.1-2009：金屬維氏硬度試驗(yàn)方法

JESD22-B116A：半導(dǎo)體鍵合線剪切試驗(yàn)規(guī)范

GB/T 10610-2009：產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu)輪廓法

檢測(cè)設(shè)備

Keyence VHX-7000數(shù)字顯微鏡：5000倍光學(xué)放大,，3D形貌重建功能

Instron 5943微力試驗(yàn)機(jī)：0.001N分辨率,，100mm/min最大速度

Mitutoyo SJ-410表面粗糙度儀：16nm縱向分辨率，JIS B0651標(biāo)準(zhǔn)

Nordson DAGE XD7600 X射線檢測(cè)系統(tǒng)：130kV微焦點(diǎn)源,，3μm分辨率

Hitachi SU5000場(chǎng)發(fā)射電鏡：1nm分辨率能譜分析模塊

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)