光激發(fā)光檢測摘要:光激發(fā)光檢測是一種基于材料受激發(fā)射特性的分析技術(shù),,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué),、生物醫(yī)學(xué)及半導(dǎo)體領(lǐng)域,。本文系統(tǒng)闡述其核心檢測項目(包括發(fā)光強(qiáng)度,、光譜特性及衰減時間等),、適用材料類型(如熒光材料,、半導(dǎo)體器件),、國際/國家標(biāo)準(zhǔn)(ASTME2143,、GB/T18901)及關(guān)鍵設(shè)備配置(穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)光譜儀),,為實驗室及工業(yè)檢測提供技術(shù)參考,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
發(fā)光強(qiáng)度測試:波長范圍400-800 nm,,精度±1%
發(fā)射光譜分析:分辨率≤0.5 nm,,掃描速度10 nm/s
衰減時間測量:時間分辨率0.1 ns-10 s
量子產(chǎn)率測定:積分球法校準(zhǔn),誤差≤2%
熱穩(wěn)定性測試:溫度范圍-196°C至300°C
半導(dǎo)體材料:GaN基LED芯片,、量子點薄膜
熒光標(biāo)記物:生物抗體標(biāo)記物,、細(xì)胞示蹤劑
稀土發(fā)光材料:YAG:Ce3?熒光粉、Eu3?配合物
有機(jī)光電材料:OLED發(fā)光層,、鈣鈦礦薄膜
納米發(fā)光材料:上轉(zhuǎn)換納米顆粒,、碳量子點
ASTM E2143-01(2021):熒光壽命測試標(biāo)準(zhǔn)方法
ISO 20504:2017:無機(jī)發(fā)光材料熱淬滅特性測試
GB/T 18901-2013:光致發(fā)光光譜分析方法通則
GB/T 32672-2016:量子點材料熒光量子產(chǎn)率測試
IEC 62341-6-2:OLED器件光衰特性評估規(guī)范
Edinburgh Instruments FLS1000:穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀,配備450W氙燈和液氮制冷探測器
Horiba FluoroMax-4:高靈敏度熒光分光光度計,,波長范圍250-1700 nm
Tektronix DPO7254C:高速示波器(25 GHz帶寬),,用于納秒級衰減曲線采集
Labsphere LMS-7600:150mm積分球系統(tǒng),量子產(chǎn)率絕對測量誤差≤1.5%
Cryo Industries ST-100:閉循環(huán)低溫恒溫器(4K-500K),控溫精度±0.1K
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析光激發(fā)光檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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