參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1.主量元素分析：Nb?O?（30-75%）,、Ta?O?（5-40%）,、Fe?O?（0.1-15%）、MnO（0.01-8%）

2.微量元素測定：U（1-500ppm）,、Th（5-1000ppm）,、Sn（10-2000ppm）,、Zr（50-3000ppm）

3.晶體結(jié)構(gòu)分析：空間群測定（Pbnm或C2/m）、晶胞參數(shù)（a=5.740.02,b=14.270.03）

4.物理性能測試：密度（5.3-7.9g/cm）,、莫氏硬度（6.0-6.5）,、介電常數(shù)（10-25@1MHz）

5.放射性檢測：U-238比活度（0.1-50Bq/g）、Th-232比活度（0.5-200Bq/g）

檢測范圍

1.原礦石樣品：花崗偉晶巖型/碳酸巖型礦床原生礦石

2.精礦粉體：粒度325目以上鉭鈮精礦粉

3.冶金中間品：鉭鐵合金（FeTa30-FeTa70）,、鈮鐵合金（FeNb50-FeNb70）

4.功能材料：鉭電容器級Ta?O?粉體（純度≥99.95%）

5.工業(yè)廢料：電子廢料中鉭鈮回收物（PCB板/廢催化劑）

檢測方法

1.X射線熒光光譜法：ASTMD5381-93(2021)測定主量元素

2.ICP-MS法：ISO17294-2:2016測定痕量元素

3.X射線衍射法：GB/T17433-2014進(jìn)行物相定量分析

4.電子探針微區(qū)分析：GB/T15074-2008測定元素面分布

5.中子活化分析：ISO21483:2017測定U/Th含量

檢測設(shè)備

1.PANalyticalAxiosMaxX射線熒光光譜儀：波長色散型WDXRF，測量精度0.02%

2.ThermoFisheriCAPRQICP-MS：檢出限達(dá)ppt級,，配備碰撞反應(yīng)池技術(shù)

3.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：Cu靶Kα輻射（λ=1.5406）,，角度精度0.0001

4.ShimadzuEPMA-8050G電子探針：空間分辨率≤1μm，元素分析范圍B-U

5.PerkinElmerNexION350DICP-OES：軸向觀測系統(tǒng),，動態(tài)線性范圍達(dá)9個數(shù)量級

6.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測量范圍0.01-3500μm,，濕法/干法雙模式

7.NetzschSTA449F3同步熱分析儀：TG-DSC聯(lián)用，溫度范圍RT-1550℃

8.Agilent5500AFM原子力顯微鏡：分辨率XY≤1nm,Z≤0.1nm

9.CanberraBE6530高純鍺γ譜儀：能量分辨率≤1.9keV@1332keV

10.MettlerToledoXSE205電子天平：稱量精度0.01mg,，最大載荷

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)