參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 純度測(cè)定：采用ICP-OES法測(cè)定鉺金屬主含量（99.5%-99.99%）

2. 雜質(zhì)元素分析：Fe≤50ppm,、Cu≤30ppm,、Al≤20ppm等16種痕量元素

3. 密度測(cè)試：阿基米德法測(cè)定（8.795-9.066g/cm3）

4. 維氏硬度：載荷1kg條件下HV值（45-60）

5. 晶粒尺寸：金相顯微鏡測(cè)定（10-50μm）

檢測(cè)范圍

1. 核工業(yè)用鉺基中子吸收材料

2. Er:YAG激光晶體原料

3. 稀土永磁合金（Er-Fe-B系）

4. 光纖通信用鉺摻雜玻璃

5. 高溫合金添加劑（Er-Al系）

檢測(cè)方法

1. ASTM E1479-16《ICP-MS測(cè)定高純稀土中痕量雜質(zhì)》

2. ISO 18114:2021《稀土金屬化學(xué)分析方法》

3. GB/T 20127.7-2023《痕量元素分析的質(zhì)譜法》

4. GB/T 4336-2016《碳硫分析儀測(cè)定非鐵金屬》

5. ISO 6507-1:2023《金屬材料維氏硬度試驗(yàn)》

檢測(cè)設(shè)備

1. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS（痕量元素分析）

2. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀（晶體結(jié)構(gòu)分析）

3. Shimadzu HMV-G21ST顯微硬度計(jì)（維氏硬度測(cè)試）

4. Mettler Toledo XPR206DR密度計(jì)（固體密度測(cè)定）

5. Leica DM2700M金相顯微鏡（晶粒尺寸觀測(cè)）

6. PerkinElmer PinAAcle 900T原子吸收光譜儀

7. LECO CS844碳硫分析儀

8. Netzsch STA 449F3同步熱分析儀

9. Agilent 7900 ICP-OES光譜儀

10. Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)