參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 純度分析：Sn含量≥99.90%（XRF法測(cè)定）

2. 元素雜質(zhì)：Pb≤0.010%,、Cu≤0.005%,、Bi≤0.005%（ICP-OES法）

3. 物理性能：密度7.28-7.31g/cm3（比重瓶法）、熔點(diǎn)231.93±0.5℃（DSC熱分析）

4. 表面質(zhì)量：氧化層厚度≤50nm（SEM-EDS聯(lián)用）,、劃痕深度≤5μm（白光干涉儀）

5. 化學(xué)成分：As≤0.002%,、Sb≤0.005%、Fe≤0.003%（GB/T 3260.2標(biāo)準(zhǔn)）

檢測(cè)范圍

1. 工業(yè)級(jí)錫錠（SN99.90/SN99.95牌號(hào)）

2. 電子焊料（Sn-Cu/Sn-Ag-Cu合金體系）

3. 鍍錫鋼板（馬口鐵基材鍍層厚度0.4-2.8μm）

4. 錫基軸承合金（Babbitt合金中Sn-Sb-Cu系材料）

5. 錫化工產(chǎn)品（二氧化錫粉末D50粒徑≤5μm）

檢測(cè)方法

1. ASTM E1479-16：XRF法測(cè)定金屬錫中主量元素

2. ISO 1053-1:2018：火花直讀光譜法測(cè)定雜質(zhì)元素

3. GB/T 3260.2-2013：化學(xué)滴定法測(cè)定錫錠銅含量

4. ASTM E29-20：數(shù)值修約規(guī)則在成分分析中的應(yīng)用

5. GB/T 5121.27-2019：ICP-OES法測(cè)定鉛,、鉍等痕量元素

檢測(cè)設(shè)備

1. Thermo Scientific Niton XL5 XRF分析儀（元素范圍Mg-U,，精度±0.01%）

2. PerkinElmer Optima 8300 ICP-OES（檢出限0.1ppm級(jí)）

3. Mettler Toledo DSC3差示掃描量熱儀（溫度分辨率0.1℃）

4. ZEISS Sigma 500場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（放大倍數(shù)50萬倍）

5. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀（角度重復(fù)性±0.0001°）

6. Agilent 7900 ICP-MS（同位素比值測(cè)定精度＜0.05%）

7. Mitutoyo SJ-410表面粗糙度儀（縱向分辨率0.01μm）

8. Netzsch DIL 402C熱膨脹儀（膨脹系數(shù)測(cè)量精度±5%）

9. Shimadzu AG-Xplus電子萬能試驗(yàn)機(jī)（載荷范圍50N-300kN）

10. Keyence VK-X3000激光共聚焦顯微鏡（Z軸分辨率1nm）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)