參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 等離子體共振峰波長：測量范圍200-1500nm,，精度±0.2nm

2. 半峰全寬(FWHM)：分辨率≤1nm,，重復性誤差＜3%

3. 消光系數(shù)：測量精度±[email protected]

4. 散射強度分布：角度分辨率0.1°，動態(tài)范圍105:1

5. 時間分辨衰減特性：時間分辨率10ps-10s可調(diào)

檢測范圍

1. 半導體納米線/量子點材料（GaAs,、InP等III-V族化合物）

2. 貴金屬納米顆粒（金/銀/銅納米球/棒/立方體）

3. 光學薄膜涂層（TiO2/SiO2多層膜系）

4. 等離子體晶體陣列（周期結(jié)構(gòu)超表面）

5. 生物傳感器芯片（表面等離子體共振傳感元件）

檢測方法

ASTM E2721-16 紫外-可見-近紅外光譜反射率標準測試法

ISO 18473-3:2018 納米顆粒光學特性表征規(guī)范

GB/T 32672-2016 納米材料紫外可見漫反射光譜測試通則

ISO 21254-1:2011 激光誘導擊穿光譜法(LIBS)

GB/T 34879-2017 微區(qū)光譜分析技術(shù)導則

檢測設(shè)備

1. Horiba LabRAM HR Evolution：共焦顯微拉曼光譜系統(tǒng),，空間分辨率200nm

2. Agilent Cary 7000 UV-Vis-NIR：全波段分光光度計，波長精度±0.08nm

3. Malvern Panalytical Zetasizer Ultra：動態(tài)光散射儀,，粒徑檢測下限0.3nm

4. Ocean Insight FX系列光纖光譜儀：積分時間10ms-10min可調(diào)

5. J.A. Woollam M-2000V型橢偏儀：70°入射角測量精度±0.01°

6. Hamamatsu C13027時間相關(guān)單光子計數(shù)器：時間分辨率25ps

7. Bruker Senterra II顯微光譜系統(tǒng)：配置532/633/785nm多波長激光源

8. Shimadzu ICPE-9820等離子體發(fā)射光譜儀：波長范圍167-852nm

9. Renishaw inVia Qontor拉曼成像系統(tǒng)：共聚焦模式空間分辨率<1μm

10. PerkinElmer Lambda 1050+雙單色器系統(tǒng)：雜散光＜0.00007%T

北京中科光析科學技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)