可重寫光碟檢測摘要:可重寫光碟檢測通過系統(tǒng)化分析光學(xué)性能,、物理特性及耐久性指標(biāo),,確保數(shù)據(jù)存儲可靠性,。核心檢測項目包括反射率偏差,、誤碼率閾值,、記錄層靈敏度等參數(shù)測定,,覆蓋CD-RW,、DVD±RW等主流介質(zhì)類型,。執(zhí)行過程嚴(yán)格遵循ISO/IEC 17321,、GB/T 26243等國際國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,采用分光光度計,、激光功率校準(zhǔn)儀等專業(yè)設(shè)備實現(xiàn)量化評估,。
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。
1.反射率偏差:波長650nm/780nm條件下測量0.05范圍波動值
2.誤碼率閾值:采用CLV/CAV模式測試BLER≤220ECC不可糾錯率
3.記錄層靈敏度:激光功率3.5-5.5mW區(qū)間寫入成功率≥99.8%
4.翹曲度:徑向/切向形變量≤0.6(25℃/50%RH環(huán)境)
5.耐候性測試:85℃/85%RH加速老化240小時后的數(shù)據(jù)完整性保持率
1.CD-RW(700MB/80min可擦寫光盤)
2.DVDRW(單層4.7GB/雙層8.5GB介質(zhì))
3.BD-RE(25GB/50GB藍(lán)光可擦寫光盤)
4.M-DISC歸檔級可重寫光盤
5.特殊環(huán)境用抗磁化光碟(軍工/航天領(lǐng)域)
1.ISO/IEC17321:2015規(guī)定光學(xué)參數(shù)測量流程
2.GB/T26243-2010光盤產(chǎn)品通用技術(shù)條件
3.ASTMD5272加速老化試驗標(biāo)準(zhǔn)程序
4.JISX6243:2019記錄介質(zhì)耐久性評估方法
5.ECMA-379藍(lán)光光盤機械特性測試規(guī)范
1.PerkinElmerLambda1050+分光光度計:0.1nm分辨率反射譜分析
2.PulstecODU-1000誤碼率測試儀:支持24X高速掃描模式
3.MitutoyoCrysta-ApexS574三坐標(biāo)儀:0.1μm級翹曲度測量
4.ESPECPL-3J恒溫恒濕箱:溫度范圍-40℃~150℃
5.Newport1835-C激光功率校準(zhǔn)系統(tǒng):0.1mW精度輸出控制
6.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡:5000倍表面缺陷觀測
7.ShimadzuAGS-X萬能材料試驗機:10N載荷機械強度測試
8.BrukerContourGT-K光學(xué)輪廓儀:納米級溝槽深度測量
9.Agilent4294A阻抗分析儀:介質(zhì)層介電常數(shù)測定
10.HitachiSU8010場發(fā)射電鏡:記錄層微觀結(jié)構(gòu)分析
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗方案,。
售后:報告終身可查,工程師1v1服務(wù),。
中析可重寫光碟檢測 - 由于篇幅有限,,僅展示部分項目,如需咨詢詳細(xì)檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2024-08-24
2021-03-15
2023-06-28