參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.發(fā)射率測(cè)定：波長(zhǎng)范圍0.3-20μm波段積分發(fā)射率（ε≥0.85）
2.溫度均勻性：工作區(qū)間300-2000K時(shí)表面溫差ΔT≤1.5%
3.光譜響應(yīng)特性：2-14μm波段光譜分辨率≤4nm
4.熱穩(wěn)定性測(cè)試：連續(xù)工作72小時(shí)性能波動(dòng)≤0.02
5.角度依賴性：入射角0-85時(shí)發(fā)射率變化量δ≤0.03

檢測(cè)范圍

1.航天器熱控涂層（多層隔熱組件/輻射制冷薄膜）
2.工業(yè)高溫爐襯材料（碳化硅/氧化鋯基復(fù)合材料）
3.電子封裝散熱基板（氮化鋁/金剛石復(fù)合基材）
4.紅外偽裝涂層（多波段兼容型功能涂料）
5.太陽能集熱器吸熱膜層（選擇性吸收涂層）

檢測(cè)方法

ASTME423-17紅外光譜發(fā)射率測(cè)量規(guī)程
ISO18434-1:2008熱成像系統(tǒng)校準(zhǔn)方法
GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱溫度性能測(cè)試方法
ASTME3053-17寬波段發(fā)射率計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)
GB/T7287-2008紅外輻射加熱器測(cè)量方法

檢測(cè)設(shè)備

1.FTIR光譜儀（BrukerVERTEX80v）：波長(zhǎng)范圍0.3-28μm
2.黑體輻射源校準(zhǔn)裝置（Fluke4181）：溫度范圍-40℃~1200℃
3.高精度測(cè)溫儀（KEITHLEY2010）：分辨率0.001K
4.真空高溫測(cè)試艙（ThermcraftVTH-24）：極限真空度510?Pa
5.半球反射率測(cè)量系統(tǒng)（SurfaceOpticsSOC-100）：角度精度0.1
6.瞬態(tài)平面熱源儀（HotDiskTPS2500S）：導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量誤差≤3%
7.紅外熱像儀（FLIRX8580）：幀頻180Hz@640512像素
8.激光閃射儀（NETZSCHLFA467）：溫度范圍RT~2000℃
9.多軸運(yùn)動(dòng)控制平臺(tái)（AerotechANT130）：定位精度1μm
10.光譜輻射計(jì)（OL750-CLD）：波長(zhǎng)精度0.05nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)