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電樞繞組用銅檢測

2025-05-16 關(guān)鍵詞:電樞繞組用銅測試范圍,電樞繞組用銅測試方法,電樞繞組用銅測試機(jī)構(gòu) 相關(guān):
電樞繞組用銅檢測

電樞繞組用銅檢測摘要:檢測項(xiàng)目1.化學(xué)成分分析:Cu含量≥99.90%,,Ag≤0.002%,,P≤0.003%2.導(dǎo)電率測試:≥100%IACS(20℃)3.機(jī)械性能測試:抗拉強(qiáng)度200-300MPa,伸長率≥30%4.電阻率測試:≤0.017241Ωmm/m(20℃)5.絕緣層厚度:0.05-0.15mm(漆包線)6.彎曲試驗(yàn):R=3d彎曲180無裂紋7.熱沖擊試驗(yàn):200℃30min絕緣無開裂檢測范圍1.T2無氧銅繞組線材(C10200)2.QZY-2/220聚酯亞胺漆包圓銅線3.TMR20軟態(tài)扁銅線(截面3mm10mm)4

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析:Cu含量≥99.90%,Ag≤0.002%,,P≤0.003%
2.導(dǎo)電率測試:≥100%IACS(20℃)
3.機(jī)械性能測試:抗拉強(qiáng)度200-300MPa,伸長率≥30%
4.電阻率測試:≤0.017241Ωmm/m(20℃)
5.絕緣層厚度:0.05-0.15mm(漆包線)
6.彎曲試驗(yàn):R=3d彎曲180無裂紋
7.熱沖擊試驗(yàn):200℃30min絕緣無開裂

檢測范圍

1.T2無氧銅繞組線材(C10200)
2.QZY-2/220聚酯亞胺漆包圓銅線
3.TMR20軟態(tài)扁銅線(截面3mm10mm)
4.鍍鎳銅導(dǎo)線(鍍層厚度2-5μm)
5.銅銀合金繞組線(Ag含量0.03-0.12%)
6.換向器用梯形銅排(硬度HV65-85)

檢測方法

1.ASTMB193-20《導(dǎo)電材料電阻率測試標(biāo)準(zhǔn)》
2.IEC60468:1974《金屬材料電阻率測量方法》
3.GB/T5231-2012《加工銅及銅合金化學(xué)成分》
4.ISO6892-1:2019《金屬材料拉伸試驗(yàn)》
5.GB/T4074.5-2008《繞組線試驗(yàn)方法第5部分:伸長率》
6.ASTMD1676-17《絕緣材料熱老化試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)》
7.GB/T3048.2-2007《電線電纜電性能試驗(yàn)方法》

檢測設(shè)備

1.牛津儀器PMI-MASTERSmart手持式光譜儀(成分分析)
2.SIGMATEST2.069渦流導(dǎo)電儀(導(dǎo)電率測量)
3.Instron5982萬能材料試驗(yàn)機(jī)(拉伸/彎曲測試)
4.HIOKIRM3545微電阻計(jì)(電阻率測試)
5.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦顯微鏡(絕緣層厚度)
6.MemmertUE500熱老化試驗(yàn)箱(熱沖擊試驗(yàn))
7.ZwickRoellHVS-50維氏硬度計(jì)(硬度測試)
8.Elcometer456涂層測厚儀(鍍層厚度)
9.KEYENCEVHX-7000數(shù)碼顯微鏡(表面缺陷分析)
10.FLIRA700紅外熱像儀(溫升特性測試)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測周期:7~15工作日,,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)

中析電樞繞組用銅檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢詳細(xì)檢測項(xiàng)目,,請咨詢在線工程師

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