參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.尺寸偏差：長(zhǎng)度/寬度公差0.5mm以內(nèi),，厚度公差0.3mm（GB/T3810.2）
2.吸水率：水飽和狀態(tài)下質(zhì)量變化率≤0.5%（ISO10545-3）
3.抗折強(qiáng)度：三點(diǎn)彎曲法≥35MPa（ASTMC1161）
4.表面硬度：莫氏硬度≥7級(jí)（GB/T16534）
5.熱膨脹系數(shù)：20-800℃范圍內(nèi)≤7.010??/℃（ISO10545-8）

檢測(cè)范圍

1.氧化鋁陶瓷基板（Al?O?含量96%-99.5%）
2.氮化硅陶瓷結(jié)構(gòu)件（Si?N?含量≥90%）
3.碳化硅耐磨陶瓷板（SiC含量≥98%）
4.建筑裝飾用釉面陶瓷板（吸水率E≤0.5%）
5.電子封裝用低溫共燒陶瓷（LTCC）基板

檢測(cè)方法

1.尺寸測(cè)量：GB/T3810.2《陶瓷磚試驗(yàn)方法第2部分：尺寸和表面質(zhì)量的檢驗(yàn)》
2.吸水率測(cè)試：ISO10545-3《瓷磚吸水率測(cè)定》真空法
3.機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試：ASTMC1161《室溫下高級(jí)陶瓷抗彎強(qiáng)度試驗(yàn)方法》
4.熱穩(wěn)定性試驗(yàn)：GB/T3298《日用陶瓷器熱穩(wěn)定性測(cè)定方法》
5.X射線熒光光譜法：GB/T16597《冶金產(chǎn)品分析方法X射線熒光光譜法通則》

檢測(cè)設(shè)備

1.MitutoyoCMM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)（CRYSTA-ApexS系列），分辨率0.1μm
2.Instron5967電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)（載荷范圍50kN,，精度0.5%）
3.NetzschDIL402C熱膨脹儀（溫度范圍-160℃~2000℃）
4.ShimadzuEDX-7000X射線熒光光譜儀（元素分析范圍B~U）
5.Zwick/RoellZHU2.5硬度計(jì)（維氏/努氏硬度測(cè)試）
6.Memmert恒溫恒濕箱（溫度范圍-40℃~150℃,，濕度10%~98%RH）
7.Labthink蘭光W3/060水蒸氣透過(guò)率測(cè)試系統(tǒng)
8.ThermoScientificARLEQUINOX1000X射線衍射儀
9.MalvernMastersizer3000激光粒度分析儀
10.NaberthermLHT04/17高溫?zé)Y(jié)爐（最高溫度1700℃）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)