參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.光密性測(cè)試：測(cè)量暗室內(nèi)部漏光率≤0.02lux（@550nm波長(zhǎng)）,，衰減梯度≥60dB/m
2.照度均勻性：工作區(qū)域照度偏差≤5%（按ISO13653標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)格布點(diǎn)）
3.背景噪聲級(jí)：本底噪聲≤25dB(A)（依據(jù)GB/T6882-2016寬頻帶測(cè)量）
4.溫濕度控制精度：溫度波動(dòng)0.5℃/h,，濕度偏差3%RH（持續(xù)24小時(shí)監(jiān)測(cè)）
5.電磁屏蔽效能：30MHz-18GHz頻段屏蔽效能≥90dB（符合GB/T12190-2021）

檢測(cè)范圍

1.光學(xué)材料：遮光膜、濾光片,、吸波海綿的透/反射率特性
2.電子顯示產(chǎn)品：OLED屏幕暗態(tài)亮度,、LCD背光泄漏量
3.感光材料：膠片/CCD的暗電流噪聲與量子效率
4.醫(yī)療成像設(shè)備：X射線暗盒、紅外熱像儀本底輻射
5.軍用隱身材料：雷達(dá)吸波涂層的RCS縮減效能

檢測(cè)方法

1.ASTMD1003-21：透明材料霧度與透光率測(cè)定
2.ISO13653:2019：光學(xué)系統(tǒng)相對(duì)照度測(cè)量規(guī)范
3.GB/T2423.3-2016：恒定濕熱試驗(yàn)程序
4.IEC61000-4-21:2011：混響室電磁屏蔽測(cè)試法
5.GB/T3768-2017：聲壓法噪聲源聲功率級(jí)測(cè)定

檢測(cè)設(shè)備

1.PhotoResearchPR-880高精度光譜輻射計(jì)（0.001-100,000lux量程）
2.Brel&Kjr2270型聲學(xué)分析系統(tǒng)（頻率范圍6Hz-20kHz）
3.FLIRA8300sc紅外熱像儀（熱靈敏度＜20mK）
4.KeysightN5227A矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（10MHz-67GHz）
5.VaisalaHMT337溫濕度記錄儀（精度0.1℃/0.8%RH）
6.LabsphereLMS-7600積分球系統(tǒng)（直徑2m,1%空間均勻性）
7.SchwarzbeckUHALP9108雙錐天線（30MHz-6GHz頻段）
8.OphirPD300-3W光電探測(cè)器（響應(yīng)時(shí)間10ns）
9.Chroma73207點(diǎn)光源系統(tǒng)（發(fā)散角0.5）
10.Agilent34461A數(shù)字萬(wàn)用表（6位分辨率）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)