參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

磁性參數(shù)檢測(cè)：

• 矯頑力測(cè)量：矯頑力值（Hc）,、內(nèi)稟矯頑力（Hcj）
• 磁化強(qiáng)度分析：飽和磁化強(qiáng)度（Ms）、剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度（Br）
• 磁滯回線特性：最大磁能積（BH）max,、矩形比（S）

• 粒度分布：D50值（≤10μm）,、粒度均勻性（PDI≤0.3）
• 密度測(cè)定：真密度（≥7.8g/cm3）、振實(shí)密度（參照GB/T 5162）

• 元素含量：鐵含量（≥98wt%）,、氧含量（≤0.5wt%）
• 雜質(zhì)檢測(cè)：碳含量（≤0.03wt%）,、硫含量（≤0.01wt%）

• 溫度依賴性：矯頑力溫度系數(shù)（α≤-0.2%/℃）、居里溫度（Tc≥450℃）
• 熱循環(huán)測(cè)試：矯頑力衰減率（≤5% after 100 cycles）

• 硬度測(cè)試：維氏硬度（HV≥600）,、顯微硬度（參照ISO 6507）
• 抗壓強(qiáng)度：壓縮強(qiáng)度（≥300MPa）,、彈性模量

• 表面粗糙度：Ra值（≤0.1μm）、表面能（參照ASTM D7490）
• 涂層厚度：氧化層厚度（≤10nm）,、鍍層均勻性

• 電阻率測(cè)量：直流電阻率（≥10μΩ·m）,、介電常數(shù)
• 磁導(dǎo)率分析：初始磁導(dǎo)率（μi≥100）、復(fù)數(shù)磁導(dǎo)率

• 濕度影響：矯頑力濕度系數(shù)（β≤0.1%/RH）,、腐蝕速率（≤0.01mm/year）
• 鹽霧測(cè)試：耐腐蝕性（≥500h無(wú)腐蝕,，參照GB/T 10125）

• 晶粒尺寸：平均晶粒尺寸（≤5μm）、晶界分布
• 相分布分析：鐵磁相比例（≥95%）,、非磁性相含量

• 渦流損耗：?jiǎn)挝毁|(zhì)量損耗（≤1W/kg）,、磁滯損耗系數(shù)
• 總損耗：鐵損（Pcv≤50W/m3 at 1T）

檢測(cè)范圍

1. 鐵氧體磁性粉末：涵蓋Mn-Zn,、Ni-Zn等類型，重點(diǎn)檢測(cè)矯頑力溫度穩(wěn)定性及高頻損耗特性

2. 釹鐵硼永磁粉末：用于高性能永磁體,，側(cè)重內(nèi)稟矯頑力（Hcj）及熱退磁效應(yīng)

3. 鋁鎳鈷磁性粉末：應(yīng)用于傳感器,，重點(diǎn)檢測(cè)剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度（Br）及機(jī)械強(qiáng)度

4. 軟磁鐵粉：用于電感元件，側(cè)重初始磁導(dǎo)率（μi）及渦流損耗

5. 納米磁性粉末：粒徑≤100nm,，重點(diǎn)檢測(cè)超順磁性臨界尺寸及表面氧化層

6. 復(fù)合磁性粉末：含聚合物基體,，側(cè)重界面結(jié)合強(qiáng)度及磁性能一致性

7. 磁性流體粉末：用于密封系統(tǒng)，重點(diǎn)檢測(cè)懸浮穩(wěn)定性及磁場(chǎng)響應(yīng)速度

8. 高溫磁性粉末：如SmCo基,，側(cè)重居里溫度（Tc）及高溫矯頑力衰減

9. 生物相容磁性粉末：用于醫(yī)療植入物,，側(cè)重化學(xué)純度及細(xì)胞毒性測(cè)試

10. 環(huán)保磁性粉末：無(wú)重金屬類型，側(cè)重可回收性及環(huán)境污染物檢測(cè)

檢測(cè)方法

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：

• ISO 2178:2016 磁性材料矯頑力的測(cè)量方法
• ASTM A977 永磁材料直流磁性能測(cè)試
• IEC 60404-5 磁性材料磁滯回線測(cè)定

• GB/T 3656-2008 磁性材料矯頑力的測(cè)定
• GB/T 13888-2009 磁性粉末粒度分布測(cè)試
• GB/T 20123-2006 鐵基粉末化學(xué)分析方法

檢測(cè)設(shè)備

1. 振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)：LakeShore 7400系列（磁場(chǎng)范圍±3T,，精度±0.5%）

2. 磁滯回線儀：Permagraph C-300（最大磁場(chǎng)2.5T,，分辨率0.1mT）

3. 直流磁化儀：MATS-2010SD（電流范圍0-100A,，精度±0.1%）

4. 掃描電子顯微鏡：Hitachi SU8000（分辨率1nm,，加速電壓0.5-30kV）

5. X射線衍射儀：Bruker D8 ADVANCE（角度范圍5-90°，精度±0.01°）

6. 粒度分析儀：Malvern Mastersizer 3000（粒徑范圍0.01-3500μm,，精度±0.5%）

7. 密度計(jì)：Micromeritics AccuPyc 1340（氣體置換法,，精度±0.02%）

8. 硬度測(cè)試儀：Wilson Tukon 2500（載荷范圍1-1000gf，精度±1%）

9. 熱分析儀：Netzsch STA 449 F3（溫度范圍-150-1600℃,，精度±0.1℃）

10. 環(huán)境測(cè)試箱：Weiss WK11-340（溫度范圍-70-180℃,，濕度范圍10-98%）

11. 電阻率測(cè)試儀：Keithley 6517B（電阻范圍1μΩ-200GΩ，精度±0.05%）

12. 表面輪廓儀：Bruker ContourGT-K（垂直分辨率0.1nm,，掃描速度1mm/s）

13. 化學(xué)分析儀：Thermo Scientific ARL 4460（檢測(cè)限0.001%,，精度±0.01%）

14. 磁通計(jì)：F.W. Bell 7030（量程0.01-2000mT，精度±0.2%）

15. 矯頑力計(jì)：Magnet-Physik Dr. Steingroever MPMS（磁場(chǎng)精度±0.1%,，溫度范圍-269-300℃）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)