參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

電學性能檢測：

• 電阻率測量：范圍1E-6~1E3 Ω·cm（參照SEMI MF84）
• 霍爾效應分析：載流子濃度≥1E15 cm?3,、霍爾遷移率≥100 cm2/V·s
• IV特性測試：擊穿電壓≥100 V,、漏電流≤1E-9 A

• 熱導率測定：范圍0.1~100 W/m·K（參照ASTM E1461）
• 熱電系數分析：塞貝克系數≥200 μV/K
• 熱膨脹系數測量：CTE≤5 ppm/K

• 禁帶寬度測試：Eg值1.0~2.0 eV（參照ISO 13468）
• 吸收光譜分析：峰值波長300~2000 nm
• 發(fā)光效率評估：量子效率≥80%

• 晶格常數測量：誤差±0.01 ?（參照ASTM D5384）
• 晶體取向分析：偏移角≤0.5°
• 表面粗糙度檢測：Ra≤10 nm

• 元素純度分析：碲含量≥99.999%（參照GB/T 12690）
• 摻雜濃度測試：硼摻雜偏差±0.01 wt%
• 雜質含量評估：重金屬≤1 ppm

• 硬度測試：維氏硬度≥100 HV
• 抗彎強度測量：強度≥50 MPa
• 彈性模量分析：范圍50~200 GPa

• 接觸角測量：親水性≤30°
• 表面能計算：范圍30~70 mJ/m2
• 氧化層厚度檢測：≤10 nm

• 位錯密度分析：≤1E4 cm?2
• 孔洞缺陷評估：尺寸≤1 μm
• 裂紋檢測：長度≤100 μm

• 載流子擴散系數：≥1 cm2/s
• 雜質擴散速率：≤1E-10 cm2/s
• 界面擴散分析：厚度均勻性±5%

• 高溫老化試驗：壽命≥1000小時
• 循環(huán)熱沖擊測試：循環(huán)次數≥500次
• 濕度耐性評估：RH=85%下失效閾值

檢測范圍

1. 單晶碲板材： 高純度碲單晶，重點檢測晶體缺陷密度和電學均勻性,。

2. 多晶碲板材： 多晶結構板材,，側重晶界電阻率和熱穩(wěn)定性評估。

3. 硼摻雜碲板材： P型半導體材料,，核心檢測摻雜濃度精度和載流子遷移率,。

4. 砷摻雜碲板材： N型半導體變體，重點分析雜質分布和禁帶寬度偏移,。

5. 碲化鎘復合板材： CdTe基材料,，檢測光電轉換效率和界面結合強度。

6. 碲化鉛板材： PbTe基高溫材料,，側重熱電系數和熱導率平衡測試,。

7. 納米晶碲板材： 納米結構材料，檢測量子尺寸效應和表面能變化,。

8. 薄膜碲板材： 沉積薄膜型,，重點評估厚度均勻性和附著性。

9. 復合碲板材： 聚合物基復合材料,，檢測界面擴散和機械耐久性,。

10. 高溫應用碲板材： 高溫環(huán)境材料,，側重熱膨脹系數和老化性能測試。

檢測方法

國際標準：

• SEMI MF84-2020 半導體材料電阻率測量
• ASTM E1461-2021 激光閃光法熱導率測試
• ISO 13468-2022 光學材料透射率測定
• IEC 60749-2021 半導體器件環(huán)境試驗

• GB/T 12690-2020 高純金屬化學分析方法
• GB/T 1551-2021 半導體材料霍爾系數測定
• GB/T 14264-2021 半導體晶體缺陷檢測
• GB/T 17394-2022 金屬材料硬度試驗

檢測設備

1. 四探針電阻率測試儀： KEITHLEY 2450型（測量范圍1E-6~1E5 Ω·cm，精度±0.1%）

2. 霍爾效應測試系統： LAKESHORE 7707A型（磁場強度0-2T,，溫度范圍77-500K）

3. 激光閃光導熱儀： NETZSCH LFA467型（熱導率精度±1%,，溫度范圍-150~500°C）

4. 紫外可見分光光度計： PERKINELMER Lambda1050型（波長范圍190~3300nm，分辨率0.1nm）

5. 掃描電子顯微鏡： ZEISS GeminiSEM500型（分辨率0.8nm,，加速電壓0.1-30kV）

6. X射線衍射儀： BRUKER D8 ADVANCE型（角度精度±0.0001°,，布拉格角范圍5-90°）

7. 原子力顯微鏡： BRUKER DimensionIcon型（掃描尺寸100μm，垂直分辨率0.01nm）

8. 傅里葉變換紅外光譜儀： THERMO Nicolet iS50型（波數范圍7800~350cm?1,，信噪比30000:1）

9. 熱分析儀： TA Instruments SDT650型（DSC精度±0.1μW,，溫度范圍-180~1500°C）

10. 表面輪廓儀： BRUKER DektakXT型（垂直分辨率0.01?，掃描速度10mm/s）

11. 機械測試機： INSTRON 5967型（載荷范圍0.01-100kN,，應變速率0.0001-1000mm/min）

12. 高溫老化箱： ESPEC SH-241型（溫度范圍-70~180°C,，濕度控制10-98%RH）

13. 光學顯微鏡： OLYMPUS BX53M型（放大倍數50-1000X，數字成像分辨率5MP）

14. 離子濺射儀： GATAN PECS II型（濺射速率0.1-10nm/min,，真空度≤1E-6 Torr）

15. 載流子壽命測試儀： SINTON WCT-120型（壽命范圍1ns-10ms,，精度±5%）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務,。

中析儀器 資質