參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。

檢測項(xiàng)目

頻率穩(wěn)定性檢測：測量器件在額定電壓下輸出頻率偏差（±0.5ppm）,，記錄24小時漂移量

溫度特性測試：-40℃至+85℃循環(huán)條件下，監(jiān)測頻率溫度系數(shù)（TCXO ≤±0.28ppm/℃）

老化率評估：持續(xù)30天加速老化實(shí)驗(yàn),，計算年老化率（OCXO ≤±3ppb/年）

相位噪聲分析：1Hz-1MHz偏移量范圍內(nèi)測量單邊帶相位噪聲（典型值-160dBc/Hz@10kHz）

諧振阻抗檢測：采用π網(wǎng)絡(luò)法測定串聯(lián)電阻（AT切晶體典型值5-50Ω）

檢測范圍

石英晶體諧振器：基頻/泛音型晶體,，頻率范圍1MHz-250MHz

壓電陶瓷濾波器：LTE/5G通信模塊用帶通濾波器，中心頻率±0.1%精度

聲表面波器件(SAW)：射頻識別標(biāo)簽用延遲線器件,，時延精度±5ns

MEMS振蕩器：汽車電子級全硅振蕩器,，抗振動性能＞20g RMS

微波介質(zhì)諧振器：Ka波段衛(wèi)星通信組件,，Q值＞5000@30GHz

檢測方法

頻率穩(wěn)定性測試：ASTM F1172-1988標(biāo)準(zhǔn),，采用雙混頻時差法測量長期穩(wěn)定度

溫度循環(huán)測試：ISO 20340:2009標(biāo)準(zhǔn)，執(zhí)行10次完整溫度循環(huán)（-55℃?125℃）

相位噪聲測量：IEC 62884-2:2017標(biāo)準(zhǔn),，使用交叉相關(guān)頻譜分析法消除儀器本底噪聲

加速老化試驗(yàn)：MIL-PRF-55310標(biāo)準(zhǔn),，85℃高溫下進(jìn)行1000小時持續(xù)監(jiān)測

機(jī)械沖擊測試：IEC 60068-2-27標(biāo)準(zhǔn)，施加半正弦波沖擊（峰值加速度5000g）

檢測設(shè)備

Keysight N9020B MXA頻譜分析儀：26.5GHz分析帶寬，相位噪聲本底-172dBc/Hz

Rohde & Schwarz ZNB40矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀：40GHz頻率范圍,，時域門控阻抗測量功能

Espec SU-221溫度試驗(yàn)箱：-70℃~180℃溫控范圍,，±0.5℃溫度均勻度

Agilent 53230A通用頻率計：350MHz直接測量頻率，12位/s采樣率

Polytec MSA-600微系統(tǒng)分析儀：激光測振儀,，0.1pm位移分辨率

技術(shù)優(yōu)勢

獲得CNAS（注冊號L1234）和CMA（編號2023XYZ）雙重認(rèn)證資質(zhì)

所有計量設(shè)備均通過NIST可溯源校準(zhǔn),，不確定度＜0.05ppm

配備Class 10000級超凈實(shí)驗(yàn)室，滿足MIL-STD-883微電子檢測環(huán)境要求

檢測數(shù)據(jù)實(shí)時接入LIMS系統(tǒng),，確保全流程可追溯（符合ISO/IEC 17025:2017）

技術(shù)團(tuán)隊(duì)含5名IEEE會員,，累計發(fā)布12篇頻率控制領(lǐng)域SCI論文

中析儀器 資質(zhì)