參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

純度檢測(cè)：TiB?主含量≥99.5%，雜質(zhì)元素（Fe,、Al,、O）總量≤0.3%

粒徑分布：D50檢測(cè)范圍0.5-50μm，跨度系數(shù)（D90-D10）/D50≤1.2

晶體結(jié)構(gòu)分析：六方晶系參數(shù)檢測(cè)（a=3.028?，c=3.228?）

熱穩(wěn)定性測(cè)試：TG-DSC聯(lián)用檢測(cè)800℃氧化增重率≤2%

微觀形貌表征：SEM檢測(cè)顆粒棱角完整性≥95%

檢測(cè)范圍

先進(jìn)陶瓷材料：熱壓燒結(jié)用TiB?基陶瓷預(yù)混料

金屬基復(fù)合材料：鋁/鈦合金增強(qiáng)相TiB?粉末

涂層材料：等離子噴涂用球形TiB?粉末（粒徑15-45μm）

電子材料：濺射靶材用高純TiB?塊體（純度≥99.95%）

耐火材料：TiB?-C復(fù)合耐火制品原料

檢測(cè)方法

化學(xué)組成分析：ISO 21079-3:2008（電感耦合等離子體發(fā)射光譜法）

粒度檢測(cè)：ASTM B822-17（激光衍射法/Mastersizer 3000）

晶體結(jié)構(gòu)表征：ISO 20203:2005（X射線衍射全譜擬合Rietveld法）

熱分析：ASTM E1131-20（同步熱分析STA 449 F3）

表面形貌分析：ISO 21363:2020（場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡觀測(cè)）

檢測(cè)設(shè)備

X射線衍射儀：Rigaku SmartLab,，配備高溫附件（室溫-1600℃）

激光粒度儀：Malvern Mastersizer 3000,，檢測(cè)范圍0.01-3500μm

場(chǎng)發(fā)射電鏡：FEI Nova NanoSEM 450，分辨率1.0nm@15kV

同步熱分析儀：Netzsch STA 449 F3,，靈敏度0.1μg

等離子光譜儀：PerkinElmer Avio 550,，檢出限0.1ppm

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

CNAS認(rèn)可實(shí)驗(yàn)室（注冊(cè)號(hào)L1234），檢測(cè)數(shù)據(jù)國(guó)際互認(rèn)

配備JEOL JXA-8530F電子探針,，實(shí)現(xiàn)微區(qū)成分定量分析（空間分辨率1μm）

依據(jù)ISO/IEC 17025:2017建立質(zhì)量管理體系,，檢測(cè)不確定度評(píng)估符合GUM規(guī)范

擁有材料學(xué)博士領(lǐng)銜的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，完成TiB?相關(guān)國(guó)家科研項(xiàng)目3項(xiàng)

高溫性能檢測(cè)配備Gleeble 3800熱模擬試驗(yàn)機(jī),，支持1000℃原位力學(xué)測(cè)試

中析儀器 資質(zhì)