參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

晶界滑移臨界應(yīng)力閾值：0.1-500 MPa（根據(jù)材料體系）

應(yīng)變速率敏感性指數(shù)：10??-10?2 s?1

晶界滑移激活能：100-400 kJ/mol

晶界擴(kuò)散系數(shù)：10?2?-10?1? m2/s

滑移帶間距：0.1-50 μm（SEM/EBSD表征）

檢測(cè)范圍

鎳基/鈷基高溫合金（渦輪葉片,、燃燒室部件）

結(jié)構(gòu)陶瓷材料（SiC/Si3N4基復(fù)合材料）

金屬基復(fù)合材料（Al/SiC、Ti/SiC）

納米晶材料（平均晶粒尺寸＜100 nm）

異種金屬焊接接頭（核電/航天結(jié)構(gòu)件）

檢測(cè)方法

ASTM E2714：高溫壓縮蠕變?cè)囼?yàn)方法

ISO 12135：金屬材料準(zhǔn)靜態(tài)斷裂韌性測(cè)定

GB/T 4338：金屬材料高溫拉伸試驗(yàn)方法

ASTM E1290：裂紋尖端張開位移（CTOD）測(cè)試

GB/T 2039：金屬拉伸蠕變及持久試驗(yàn)方法

檢測(cè)設(shè)備

Instron 8862雙軸萬能試驗(yàn)機(jī)：溫度范圍RT-1600℃,，載荷±100kN

FEI Helios G4聚焦離子束顯微鏡：亞微米級(jí)滑移帶三維重構(gòu)

Bruker D8 Discover XRD：晶界應(yīng)變梯度測(cè)定（精度±0.0001°）

Zeiss Crossbeam 550 FIB-SEM：原位高溫力學(xué)-顯微聯(lián)動(dòng)觀測(cè)

Netzsch DIL 402C膨脹儀：熱機(jī)械循環(huán)載荷下的尺寸變化監(jiān)測(cè)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)