參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

晶粒度測定：ASTM E112標(biāo)準(zhǔn),，測量范圍1-12級

夾雜物含量分析：ISO 4967標(biāo)準(zhǔn),，檢測精度0.1%面積占比

孔隙率檢測：ASTM B276規(guī)范，分辨率±0.5μm

裂紋深度測量：GB/T 6394要求,，誤差范圍≤5%

表面粗糙度評估：ISO 4287標(biāo)準(zhǔn),，Ra值測量精度0.01μm

檢測范圍

金屬材料：鋁合金鑄件、不銹鋼鍛件,、鈦合金板材

陶瓷材料：氧化鋯結(jié)構(gòu)件,、碳化硅密封環(huán)

高分子復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)環(huán)氧樹脂,、玻璃鋼制品

電子元件：半導(dǎo)體晶圓、PCB基板

機(jī)械零件：軸承滾子,、齒輪嚙合面

檢測方法

ASTM E407-07：金屬微觀蝕刻標(biāo)準(zhǔn)流程

ISO 643:2019：鋼的宏觀組織評級方法

GB/T 10561-2005：鋼中非金屬夾雜物測定

ASTM E3-11：金相試樣制備規(guī)范

GB/T 13298-2015：金屬顯微組織檢驗通則

檢測設(shè)備

奧林巴斯BX53M金相顯微鏡：200-1000倍連續(xù)變倍,，配備DP27數(shù)碼成像系統(tǒng)

徠卡S9i體視顯微鏡：7.1:1變焦比，最大分辨率4μm

蔡司EVO 18掃描電鏡：二次電子分辨率3nm,，能譜分析精度0.1wt%

Clemex Vision PE圖像分析系統(tǒng)：支持ASTM E112自動評級

Struers Tegramin-30研磨拋光機(jī)：壓力控制精度±1N,，轉(zhuǎn)速范圍50-600rpm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告。

標(biāo)準(zhǔn)測試：嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。

非標(biāo)測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)