參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外)。

檢測項目

化學成分分析：SiO?（40-95%）,、Al?O?（5-30%）,、Fe?O?（0.5-70%）、CaO（0.1-55%）,、MgO（0.05-15%）

物理性能測試：密度（2.5-5.0 g/cm3）,、莫氏硬度（3-7級）、吸水率（≤1.5%）,、抗壓強度（≥50 MPa）

粒度分布測定：D10（1-50 μm）,、D50（10-200 μm）、D90（50-500 μm）

有害元素檢測：硫（≤0.1%）,、磷（≤0.05%）,、砷（≤50 ppm）、汞（≤1 ppm）

礦物組成鑒定：XRD半定量分析（石英相≥60%,、長石相≤25%）

檢測范圍

鐵礦石：赤鐵礦,、磁鐵礦,、褐鐵礦等冶金原料

銅精礦：硫化銅礦、氧化銅礦等冶煉前處理物料

鋁土礦：三水鋁石型,、一水硬鋁石型等氧化鋁生產原料

稀土礦：氟碳鈰礦,、獨居石等戰(zhàn)略資源礦物

石灰石：冶金熔劑用高鈣石灰石（CaCO?≥85%）

檢測方法

X射線熒光光譜法（GB/T 6730.5-2022, ASTM D4294）

電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ISO 11885:2007, GB/T 20975.25）

激光粒度分析法（ISO 13320:2020, GB/T 19077-2016）

原子吸收光譜法（GB/T 3884.3-2012, ASTM E1834）

X射線衍射分析法（JIS K0131-1996, GB/T 30904-2014）

檢測設備

Thermo Scientific ARL PERFORM'X X射線熒光光譜儀：全元素快速定量分析

Malvern Mastersizer 3000激光粒度儀：0.01-3500μm粒徑測量

PerkinElmer PinAAcle 900T原子吸收光譜儀：ppb級痕量元素測定

Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：礦物相結構解析精度±0.02°

Mettler Toledo XPR206DR密度計：自動真密度測量精度±0.0001 g/cm3

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版)。

檢測周期：7~15工作日,，可加急,。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查，工程師1v1服務,。

中析儀器 資質