參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外)。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.化學(xué)成分分析：SiO?（45-55%）,、Al?O?（25-35%）,、CaO（5-15%）、Na?O（3-8%）及微量元素含量測(cè)定

2.晶體結(jié)構(gòu)參數(shù)：晶胞參數(shù)（a=8.14-8.18,b=12.79-12.85,c=7.14-7.18）,、空間群（C1?）及有序度指數(shù)

3.物理性質(zhì)測(cè)試：密度（2.68-2.76g/cm）,、莫氏硬度（6-6.5）、折射率（1.53-1.58）

4.熱穩(wěn)定性分析：差示掃描量熱法（DSC）測(cè)定相變溫度（800-1200℃）

5.光學(xué)特性表征：偏光顯微鏡下雙折射率（0.007-0.011）及消光角測(cè)量

檢測(cè)范圍

1.巖石學(xué)樣品：火成巖,、變質(zhì)巖中的斜長(zhǎng)石斑晶及基質(zhì)成分

2.陶瓷原料：釉料配方中的鈉鈣長(zhǎng)石質(zhì)礦物原料

3.礦物分選產(chǎn)品：選礦工藝中不同An值（10-30）的斜長(zhǎng)石精礦

4.地質(zhì)勘探巖芯：鉆孔巖芯中斜長(zhǎng)石族礦物定名與含量測(cè)定

5.工業(yè)填料：玻璃制造用高純度鈣鈉斜長(zhǎng)石粉體（粒徑D50≤45μm）

檢測(cè)方法

1.X射線熒光光譜法（ASTMD4326）：主量元素定量分析

2.X射線衍射法（GB/T17412.1）：晶體結(jié)構(gòu)解析與物相鑒定

3.電子探針微區(qū)分析（ISO22309）：?jiǎn)晤w粒礦物化學(xué)成分測(cè)定

4.紅外光譜法（GB/T6040）：結(jié)構(gòu)羥基及結(jié)晶水檢測(cè)

5.激光粒度分析（ISO13320）：粉體材料粒徑分布測(cè)試

6.熱重-差熱聯(lián)用法（GB/T19469）：熱分解行為研究

檢測(cè)設(shè)備

1.RigakuZSXPrimusIV波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀：主量元素快速定量

2.BrukerD8AdvanceX射線衍射儀：晶體結(jié)構(gòu)解析精度達(dá)0.001

3.ShimadzuEPMA-1720H電子探針：微區(qū)成分分析空間分辨率1μm

4.PerkinElmerSTA8000同步熱分析儀：溫度范圍RT-1500℃

5.MalvernMastersizer3000激光粒度儀：測(cè)量范圍0.01-3500μm

6.ThermoScientificNicoletiS50FT-IR光譜儀：波數(shù)范圍7800-350cm?

7.LeicaDM4P偏光顯微鏡：配備LAS礦物分析軟件包

8.Agilent7900ICP-MS：微量元素檢出限達(dá)ppt級(jí)

9.NetzschDIL402C熱膨脹儀：線性膨脹系數(shù)測(cè)量精度0.1%

10.CarlZeissEVOMA15掃描電鏡：二次電子分辨率3nm

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱(chēng)：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)