參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日,，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質的個人除外),。

檢測項目

1. 折射率測定（589.3nm鈉光波長下測量精度±0.0002）

2. 阿貝數(shù)計算（基于486.1nm(F線)與656.3nm(C線)的色散特性）

3. 透射光譜分析（波長范圍200-2500nm，分辨率≤1nm）

4. 表面平整度檢測（干涉法測量精度λ/[email protected]）

5. 雙折射效應評估（應力雙折射≤2nm/cm）

檢測范圍

1. 光學玻璃材料：K9玻璃,、BK7,、熔融石英等

2. 晶體材料：氟化鈣(CaF?)、硅(Si),、鍺(Ge)單晶

3. 聚合物薄膜：PC、PMMA,、PET光學級薄膜

4. 鍍膜元件：增透膜,、分光膜、濾光片組件

5. 光學棱鏡組件：直角棱鏡,、道威棱鏡,、阿米西棱鏡

檢測方法

1. ASTM E1967-19《透明材料折射率測試標準方法》

2. ISO 14782:2017《塑料透明材料霧度與透光率測定》

3. GB/T 7962.1-2010《無色光學玻璃測試方法 第1部分：折射率和色散系數(shù)》

4. ISO 10110-5:2015《光學元件表面缺陷公差規(guī)范》

5. GB/T 11168-2022《光學晶體雙折射測量方法》

檢測設備

1. PerkinElmer Lambda 950紫外-可見-近紅外分光光度計（波長范圍175-3300nm）

2. Trioptics PrismMaster PM2000棱鏡測角儀（角度分辨率0.001°）

3. Zygo Verifire MST激光干涉儀（632.8nm波長，PV值測量精度λ/100）

4. Schmidt+Haensch AR12全自動阿貝折射儀（測量范圍nD=1.3000-1.7000）

5. Hinds Instruments Exicor 150AT雙折射測量系統(tǒng)（靈敏度0.01nm延遲量）

6. Agilent Cary 7000全能型分光光度計（支持UMA附件測量絕對反射率）

7. Mitutoyo CMM坐標測量機（空間定位精度±1μm+5μm/m）

8. Bruker ContourGT-K光學輪廓儀（垂直分辨率0.1nm）

9. Ocean Insight FX系列光纖光譜儀（積分時間10ms-10min可調）

10. Newport AutoAlign自動準直系統(tǒng)（角度對準精度±2arcsec）

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質版),。

檢測周期：7~15工作日,，可加急。

資質：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質報告,。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。

非標測試：支持定制化試驗方案。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務,。

中析儀器 資質