參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1. 泄漏率檢測(cè)：測(cè)量范圍1×10^-6 Pa·m3/s至1×10^-3 Pa·m3/s（ASTM E493）

2. 壓力穩(wěn)定性測(cè)試：監(jiān)測(cè)10^-3 Pa至10^-1 Pa區(qū)間壓力波動(dòng)（ISO 3570）

3. 氣體成分分析：識(shí)別H?O,、O?、N?等殘留氣體濃度（GB/T 31480）

4. 真空度維持時(shí)間：記錄系統(tǒng)從10^-2 Pa升至10^1 Pa所需時(shí)長(zhǎng)（GB/T 3163）

5. 密封材料滲透率：評(píng)估橡膠/金屬密封件的氣體滲透系數(shù)（ISO 15105-1）

檢測(cè)范圍

1. 金屬密封件：法蘭接頭,、真空閥門組件

2. 高分子材料薄膜：聚酰亞胺真空袋,、氟橡膠密封圈

3. 真空電子器件：X射線管、光電倍增管

4. 半導(dǎo)體封裝材料：晶圓級(jí)封裝腔體,、MEMS器件

5. 真空鍍膜設(shè)備組件：磁控濺射靶材室,、蒸鍍腔體

檢測(cè)方法

1. ASTM E493-22：質(zhì)譜分析法測(cè)定系統(tǒng)總泄漏率

2. ISO 3570:2020：靜態(tài)升壓法評(píng)估真空系統(tǒng)密封性

3. GB/T 31480-2015：四極桿質(zhì)譜儀定量分析殘余氣體

4. GB/T 3163-2007：差壓法測(cè)量真空容器壓力維持能力

5. ISO 15105-1:2021：恒壓法測(cè)定聚合物薄膜透氣系數(shù)

檢測(cè)設(shè)備

1. Agilent Technologies MSD 5977B：四極桿質(zhì)譜儀（氣體成分分析）

2. INFICON UL1000 Fab：氦質(zhì)譜檢漏儀（靈敏度1×10^-12 Pa·m3/s）

3. Leybold PHOENIX L300i：渦輪分子泵組（極限真空5×10^-7 Pa）

4. MKS Instruments 925B：電容薄膜規(guī)（量程0.1 Pa至133 kPa）

5. Pfeiffer Vacuum HPT 200：熱陰極電離規(guī)（測(cè)量下限1×10^-8 Pa）

6. Edwards TIC-301：冷陰極電離計(jì)（快速響應(yīng)壓力監(jiān)測(cè)）

7. VACUU-BRAND DVR 5：數(shù)字式真空計(jì)（多通道數(shù)據(jù)采集）

8. Canon ANELVA MRH-2000：殘余氣體分析系統(tǒng)（全量程氣體識(shí)別）

9. Shimadzu GC-2030：氣相色譜儀（痕量氣體分離檢測(cè)）

10. Kurt J. Lesker KJLC 360i：復(fù)合真空校準(zhǔn)系統(tǒng)（動(dòng)態(tài)流量法校準(zhǔn)）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)