參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日,。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

檢測項目

1. 元素含量分析：測定銻（Sb）、鉍（Bi）,、碲（Te）等半金屬純度（0.1ppm-99.99%）

2. 電導率測試：測量范圍103-10? S/m（±0.5%精度）

3. 熱導率測定：覆蓋1-200 W/(m·K)區(qū)間（激光閃射法）

4. 載流子濃度：霍爾效應測試儀測量101?-102? cm?3載流子密度

5. 磁化率檢測：振動樣品磁強計測量10??-10?1 emu/g

檢測范圍

1. 銻基合金：銻化銦（InSb）,、銻化鎵（GaSb）等III-V族化合物

2. 鉍系材料：鉍碲合金（Bi?Te?）、鉍硒化合物（Bi?Se?）

3. 碲化物半導體：碲化鎘（CdTe）,、碲化鉛（PbTe）

4. 拓撲絕緣體：Bi???Sb?合金體系

5. 熱電材料：摻雜型半金屬熱電轉(zhuǎn)換器件

檢測方法

1. ASTM E3061-22《電感耦合等離子體質(zhì)譜法測定高純金屬雜質(zhì)》

2. ISO 22036:2020《X射線熒光光譜法測定微量元素》

3. GB/T 13301-2021《金屬材料電阻系數(shù)測量方法》

4. GB/T 22588-2008《閃光法測量熱擴散系數(shù)》

5. ASTM A342/A342M-18《弱磁性材料磁導率測試標準》

檢測設備

1. Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS：痕量元素分析（檢出限0.01ppb）

2. Netzsch LFA 467 HyperFlash：激光閃射法熱導率測試

3. Quantum Design PPMS DynaCool：綜合物性測量系統(tǒng)（電阻率/霍爾效應/磁化率）

4. Bruker D8 ADVANCE X射線衍射儀：晶體結(jié)構(gòu)分析（角度精度±0.0001°）

5. Keysight B2902A精密源表：納米級電輸運特性測試

6. Malvern Panalytical Zetium XRF光譜儀：多元素快速篩查

7. Lake Shore 8400系列振動樣品磁強計：磁學性能表征

8. Agilent 5500 AFM/STM聯(lián)合系統(tǒng)：表面形貌與電子態(tài)分析

9. Mettler Toledo DSC3差示掃描量熱儀：相變溫度測定

10. Four Dimensions Inc Model 280SI四探針測試臺：薄膜電阻率測量

北京中科光析科學技術研究所【簡稱：中析研究所】

報告：可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。

標準測試：嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測。

非標測試：支持定制化試驗方案,。

售后：報告終身可查,，工程師1v1服務。

中析儀器 資質(zhì)