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電子波函數(shù)檢測(cè)

2025-05-16 關(guān)鍵詞:電子波函數(shù)測(cè)試方法,電子波函數(shù)測(cè)試案例,電子波函數(shù)測(cè)試周期 相關(guān):
電子波函數(shù)檢測(cè)

電子波函數(shù)檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.能帶結(jié)構(gòu)分析:測(cè)量能量范圍10eV內(nèi)電子態(tài)分布,動(dòng)量分辨率≤0.01?2.費(fèi)米面拓?fù)浔碚鳎喝S動(dòng)量空間成像精度達(dá)0.005?3.局域態(tài)密度測(cè)量:能量分辨率≤5meV@1K低溫環(huán)境4.自旋極化率測(cè)試:極化角分辨精度0.15.相位相干長(zhǎng)度測(cè)定:空間分辨率優(yōu)于0.1nm檢測(cè)范圍1.III-V族半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)(GaAs/AlGaAs等)2.高溫超導(dǎo)銅氧化物(YBCO,、BSCCO等)3.二維材料體系(石墨烯,、過(guò)渡金屬硫化物)4.拓?fù)浣^緣體單晶(Bi?Se?,、Sb?Te?)5.量子點(diǎn)陣列器件(CdSe/Zn

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.能帶結(jié)構(gòu)分析:測(cè)量能量范圍10eV內(nèi)電子態(tài)分布,,動(dòng)量分辨率≤0.01?

2.費(fèi)米面拓?fù)浔碚鳎喝S動(dòng)量空間成像精度達(dá)0.005?

3.局域態(tài)密度測(cè)量:能量分辨率≤5meV@1K低溫環(huán)境

4.自旋極化率測(cè)試:極化角分辨精度0.1

5.相位相干長(zhǎng)度測(cè)定:空間分辨率優(yōu)于0.1nm

檢測(cè)范圍

1.III-V族半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)(GaAs/AlGaAs等)

2.高溫超導(dǎo)銅氧化物(YBCO,、BSCCO等)

3.二維材料體系(石墨烯、過(guò)渡金屬硫化物)

4.拓?fù)浣^緣體單晶(Bi?Se?,、Sb?Te?)

5.量子點(diǎn)陣列器件(CdSe/ZnS核殼結(jié)構(gòu))

檢測(cè)方法

1.角分辨光電子能譜法(ARPES):符合ISO18516:2019表面分析標(biāo)準(zhǔn)

2.掃描隧道顯微譜學(xué)(STS):執(zhí)行GB/T35031-2018納米尺度電學(xué)測(cè)量規(guī)范

3.X射線光電子衍射(XPD):參照ASTME2108-16表面結(jié)構(gòu)分析規(guī)程

4.磁光克爾效應(yīng)測(cè)量:采用GB/T40793-2021磁有序材料測(cè)試方法

5.超快時(shí)間分辨光譜:依據(jù)ISO/TR19838:2016時(shí)間分辨光譜技術(shù)指南

檢測(cè)設(shè)備

1.SPECSPHOIBOS150半球形分析器:能量分辨率<3meV@5kV加速電壓

2.ScientaOmicronDA30L角分辨譜儀:最大接受角30,,動(dòng)量精度0.002?

3.OmicronLT-STM低溫掃描隧道顯微鏡:工作溫度0.4K,空間分辨率0.05nm

4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀:CuKα光源(λ=1.5406),,角度重復(fù)性0.0001

5.AttocubeattoDRY2100閉循環(huán)制冷系統(tǒng):基礎(chǔ)溫度<300mK,,磁場(chǎng)強(qiáng)度14T

6.JEOLJEM-ARM300F球差校正電鏡:空間分辨率0.05nm@300kV

7.OxfordInstrumentsSpectromag系統(tǒng):旋轉(zhuǎn)樣品架角度精度0.01

8.RHKTechnologyR9控制器:電流靈敏度10fA@1kHz帶寬

9.FemtoLASERSCEPHEUSHR高頻激光器:脈沖寬度<15fs@800nm波長(zhǎng)

10.LakeShore475型振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì):磁場(chǎng)靈敏度10??emu@1T場(chǎng)強(qiáng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急,。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后:報(bào)告終身可查,工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)

中析電子波函數(shù)檢測(cè) - 由于篇幅有限,,僅展示部分項(xiàng)目,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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