電子波函數(shù)檢測摘要:檢測項目1.能帶結(jié)構(gòu)分析:測量能量范圍10eV內(nèi)電子態(tài)分布,,動量分辨率≤0.01?2.費米面拓撲表征:三維動量空間成像精度達0.005?3.局域態(tài)密度測量:能量分辨率≤5meV@1K低溫環(huán)境4.自旋極化率測試:極化角分辨精度0.15.相位相干長度測定:空間分辨率優(yōu)于0.1nm檢測范圍1.III-V族半導體異質(zhì)結(jié)(GaAs/AlGaAs等)2.高溫超導銅氧化物(YBCO,、BSCCO等)3.二維材料體系(石墨烯、過渡金屬硫化物)4.拓撲絕緣體單晶(Bi?Se?,、Sb?Te?)5.量子點陣列器件(CdSe/Zn
參考周期:常規(guī)試驗7-15工作日,,加急試驗5個工作日,。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外),。
1.能帶結(jié)構(gòu)分析:測量能量范圍10eV內(nèi)電子態(tài)分布,,動量分辨率≤0.01?
2.費米面拓撲表征:三維動量空間成像精度達0.005?
3.局域態(tài)密度測量:能量分辨率≤5meV@1K低溫環(huán)境
4.自旋極化率測試:極化角分辨精度0.1
5.相位相干長度測定:空間分辨率優(yōu)于0.1nm
1.III-V族半導體異質(zhì)結(jié)(GaAs/AlGaAs等)
2.高溫超導銅氧化物(YBCO、BSCCO等)
3.二維材料體系(石墨烯,、過渡金屬硫化物)
4.拓撲絕緣體單晶(Bi?Se?,、Sb?Te?)
5.量子點陣列器件(CdSe/ZnS核殼結(jié)構(gòu))
1.角分辨光電子能譜法(ARPES):符合ISO18516:2019表面分析標準
2.掃描隧道顯微譜學(STS):執(zhí)行GB/T35031-2018納米尺度電學測量規(guī)范
3.X射線光電子衍射(XPD):參照ASTME2108-16表面結(jié)構(gòu)分析規(guī)程
4.磁光克爾效應(yīng)測量:采用GB/T40793-2021磁有序材料測試方法
5.超快時間分辨光譜:依據(jù)ISO/TR19838:2016時間分辨光譜技術(shù)指南
1.SPECSPHOIBOS150半球形分析器:能量分辨率<3meV@5kV加速電壓
2.ScientaOmicronDA30L角分辨譜儀:最大接受角30,動量精度0.002?
3.OmicronLT-STM低溫掃描隧道顯微鏡:工作溫度0.4K,,空間分辨率0.05nm
4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀:CuKα光源(λ=1.5406),,角度重復性0.0001
5.AttocubeattoDRY2100閉循環(huán)制冷系統(tǒng):基礎(chǔ)溫度<300mK,磁場強度14T
6.JEOLJEM-ARM300F球差校正電鏡:空間分辨率0.05nm@300kV
7.OxfordInstrumentsSpectromag系統(tǒng):旋轉(zhuǎn)樣品架角度精度0.01
8.RHKTechnologyR9控制器:電流靈敏度10fA@1kHz帶寬
9.FemtoLASERSCEPHEUSHR高頻激光器:脈沖寬度<15fs@800nm波長
10.LakeShore475型振動樣品磁強計:磁場靈敏度10??emu@1T場強
報告:可出具第三方檢測報告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實驗室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報告,。
標準測試:嚴格按國標/行標/企標/國際標準檢測,。
非標測試:支持定制化試驗方案。
售后:報告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析電子波函數(shù)檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項目,,如需咨詢詳細檢測項目,,請咨詢在線工程師
2024-08-24
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2023-06-28