參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.能帶結(jié)構(gòu)分析：測(cè)量能量范圍10eV內(nèi)電子態(tài)分布,，動(dòng)量分辨率≤0.01?

2.費(fèi)米面拓?fù)浔碚鳎喝S動(dòng)量空間成像精度達(dá)0.005?

3.局域態(tài)密度測(cè)量：能量分辨率≤5meV@1K低溫環(huán)境

4.自旋極化率測(cè)試：極化角分辨精度0.1

5.相位相干長(zhǎng)度測(cè)定：空間分辨率優(yōu)于0.1nm

檢測(cè)范圍

1.III-V族半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)（GaAs/AlGaAs等）

2.高溫超導(dǎo)銅氧化物（YBCO,、BSCCO等）

3.二維材料體系（石墨烯、過(guò)渡金屬硫化物）

4.拓?fù)浣^緣體單晶（Bi?Se?,、Sb?Te?）

5.量子點(diǎn)陣列器件（CdSe/ZnS核殼結(jié)構(gòu)）

檢測(cè)方法

1.角分辨光電子能譜法（ARPES）：符合ISO18516:2019表面分析標(biāo)準(zhǔn)

2.掃描隧道顯微譜學(xué)（STS）：執(zhí)行GB/T35031-2018納米尺度電學(xué)測(cè)量規(guī)范

3.X射線光電子衍射（XPD）：參照ASTME2108-16表面結(jié)構(gòu)分析規(guī)程

4.磁光克爾效應(yīng)測(cè)量：采用GB/T40793-2021磁有序材料測(cè)試方法

5.超快時(shí)間分辨光譜：依據(jù)ISO/TR19838:2016時(shí)間分辨光譜技術(shù)指南

檢測(cè)設(shè)備

1.SPECSPHOIBOS150半球形分析器：能量分辨率<3meV@5kV加速電壓

2.ScientaOmicronDA30L角分辨譜儀：最大接受角30,，動(dòng)量精度0.002?

3.OmicronLT-STM低溫掃描隧道顯微鏡：工作溫度0.4K，空間分辨率0.05nm

4.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀：CuKα光源(λ=1.5406),，角度重復(fù)性0.0001

5.AttocubeattoDRY2100閉循環(huán)制冷系統(tǒng)：基礎(chǔ)溫度<300mK,，磁場(chǎng)強(qiáng)度14T

6.JEOLJEM-ARM300F球差校正電鏡：空間分辨率0.05nm@300kV

7.OxfordInstrumentsSpectromag系統(tǒng)：旋轉(zhuǎn)樣品架角度精度0.01

8.RHKTechnologyR9控制器：電流靈敏度10fA@1kHz帶寬

9.FemtoLASERSCEPHEUSHR高頻激光器：脈沖寬度<15fs@800nm波長(zhǎng)

10.LakeShore475型振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)：磁場(chǎng)靈敏度10??emu@1T場(chǎng)強(qiáng)

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版)。

檢測(cè)周期：7~15工作日,，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查，工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)