參考周期：常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,，加急試驗(yàn)5個(gè)工作日,。

注意：因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.溫度梯度控制：測(cè)量工作區(qū)間溫度波動(dòng)范圍0.1℃,，梯度變化≤0.3℃/cm

2.濕度穩(wěn)定性：相對(duì)濕度控制精度1%RH（20-95%RH范圍）

3.電場(chǎng)均勻性：有效區(qū)域內(nèi)場(chǎng)強(qiáng)偏差≤0.5kV/m（10-100kV/m量程）

4.密封性能測(cè)試：氦質(zhì)譜檢漏儀測(cè)漏率≤110??Pam/s

5.成像分辨率：標(biāo)準(zhǔn)α粒子徑跡測(cè)量誤差≤50μm

檢測(cè)范圍

1.半導(dǎo)體輻射探測(cè)器用硅晶圓（直徑200-300mm）

2.核醫(yī)學(xué)用放射性同位素標(biāo)記化合物

3.航天器抗輻射屏蔽材料（含聚乙烯基復(fù)合材料）

4.高能物理實(shí)驗(yàn)用閃爍晶體（NaI(Tl)、BGO等）

5.環(huán)境監(jiān)測(cè)用氣溶膠采樣濾膜（玻璃纖維/PTFE材質(zhì)）

檢測(cè)方法

1.ISO8529:2001《中子參考輻射》規(guī)定中子源標(biāo)定程序

2.GB/T14055-2008《中子周圍劑量當(dāng)量?jī)x校準(zhǔn)規(guī)范》

3.ASTME259-2018《光學(xué)薄膜均勻性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)》

4.IEC61563-2001《輻射防護(hù)儀器-β,、X和γ輻射場(chǎng)所監(jiān)測(cè)儀》

5.JJG852-2019《工作用輻射溫度計(jì)檢定規(guī)程》

檢測(cè)設(shè)備

1.ThermoScientificFHZ691A型高精度溫控系統(tǒng)（0.05℃控制精度）

2.VaisalaHMT337濕度變送器（0-100%RH測(cè)量范圍）

3.Keithley6517B靜電計(jì)（10aA分辨率電場(chǎng)測(cè)量）

4.Agilent7890B氣相色譜儀（氣體純度分析）

5.LeyboldPhoenixL300i氦檢漏儀（靈敏度510?mbarL/s）

6.HamamatsuC11440-36U光電倍增管系統(tǒng)（單光子探測(cè)能力）

7.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀（晶格結(jié)構(gòu)分析）

8.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡（1200倍徑跡觀測(cè)）

9.Fluke725多功能校準(zhǔn)儀（傳感器信號(hào)標(biāo)定）

10.KeysightB2902A精密源表（μV級(jí)微弱信號(hào)測(cè)量）

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱：中析研究所】

報(bào)告：可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期：7~15工作日，可加急,。

資質(zhì)：旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試：嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)。

非標(biāo)測(cè)試：支持定制化試驗(yàn)方案,。

售后：報(bào)告終身可查,，工程師1v1服務(wù)。

中析儀器 資質(zhì)