威爾遜云霧室檢測摘要:檢測項(xiàng)目1.溫度梯度控制:測量工作區(qū)間溫度波動(dòng)范圍0.1℃,,梯度變化≤0.3℃/cm2.濕度穩(wěn)定性:相對(duì)濕度控制精度1%RH(20-95%RH范圍)3.電場均勻性:有效區(qū)域內(nèi)場強(qiáng)偏差≤0.5kV/m(10-100kV/m量程)4.密封性能測試:氦質(zhì)譜檢漏儀測漏率≤110??Pam/s5.成像分辨率:標(biāo)準(zhǔn)α粒子徑跡測量誤差≤50μm檢測范圍1.半導(dǎo)體輻射探測器用硅晶圓(直徑200-300mm)2.核醫(yī)學(xué)用放射性同位素標(biāo)記化合物3.航天器抗輻射屏蔽材料(含聚乙烯基復(fù)合材料)4.高能物理實(shí)驗(yàn)用閃爍晶體(NaI(
參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。
注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。
1.溫度梯度控制:測量工作區(qū)間溫度波動(dòng)范圍0.1℃,,梯度變化≤0.3℃/cm
2.濕度穩(wěn)定性:相對(duì)濕度控制精度1%RH(20-95%RH范圍)
3.電場均勻性:有效區(qū)域內(nèi)場強(qiáng)偏差≤0.5kV/m(10-100kV/m量程)
4.密封性能測試:氦質(zhì)譜檢漏儀測漏率≤110??Pam/s
5.成像分辨率:標(biāo)準(zhǔn)α粒子徑跡測量誤差≤50μm
1.半導(dǎo)體輻射探測器用硅晶圓(直徑200-300mm)
2.核醫(yī)學(xué)用放射性同位素標(biāo)記化合物
3.航天器抗輻射屏蔽材料(含聚乙烯基復(fù)合材料)
4.高能物理實(shí)驗(yàn)用閃爍晶體(NaI(Tl),、BGO等)
5.環(huán)境監(jiān)測用氣溶膠采樣濾膜(玻璃纖維/PTFE材質(zhì))
1.ISO8529:2001《中子參考輻射》規(guī)定中子源標(biāo)定程序
2.GB/T14055-2008《中子周圍劑量當(dāng)量儀校準(zhǔn)規(guī)范》
3.ASTME259-2018《光學(xué)薄膜均勻性測試標(biāo)準(zhǔn)》
4.IEC61563-2001《輻射防護(hù)儀器-β,、X和γ輻射場所監(jiān)測儀》
5.JJG852-2019《工作用輻射溫度計(jì)檢定規(guī)程》
1.ThermoScientificFHZ691A型高精度溫控系統(tǒng)(0.05℃控制精度)
2.VaisalaHMT337濕度變送器(0-100%RH測量范圍)
3.Keithley6517B靜電計(jì)(10aA分辨率電場測量)
4.Agilent7890B氣相色譜儀(氣體純度分析)
5.LeyboldPhoenixL300i氦檢漏儀(靈敏度510?mbarL/s)
6.HamamatsuC11440-36U光電倍增管系統(tǒng)(單光子探測能力)
7.BrukerD8ADVANCEX射線衍射儀(晶格結(jié)構(gòu)分析)
8.OlympusDSX1000數(shù)碼顯微鏡(1200倍徑跡觀測)
9.Fluke725多功能校準(zhǔn)儀(傳感器信號(hào)標(biāo)定)
10.KeysightB2902A精密源表(μV級(jí)微弱信號(hào)測量)
報(bào)告:可出具第三方檢測報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。
檢測周期:7~15工作日,,可加急。
資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。
標(biāo)準(zhǔn)測試:嚴(yán)格按國標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國際標(biāo)準(zhǔn)檢測,。
非標(biāo)測試:支持定制化試驗(yàn)方案。
售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。
中析威爾遜云霧室檢測 - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師
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