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高能攝影器材檢測(cè)

2025-05-16 關(guān)鍵詞:高能攝影器材測(cè)試機(jī)構(gòu),高能攝影器材測(cè)試范圍,高能攝影器材測(cè)試周期 相關(guān):
高能攝影器材檢測(cè)

高能攝影器材檢測(cè)摘要:檢測(cè)項(xiàng)目1.光學(xué)分辨率測(cè)試:采用ISO12233標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)板驗(yàn)證線對(duì)值(LW/PH),,要求≥3000LW/PH@24MP傳感器2.透光率與色差分析:使用分光光度計(jì)測(cè)量鏡片380-780nm波段透光率≥95%,,ΔE≤1.53.高溫耐久試驗(yàn):依據(jù)GB/T2423.2執(zhí)行85℃2℃/500h老化測(cè)試后功能正常4.抗沖擊性能驗(yàn)證:參照MIL-STD-810H方法516.6實(shí)施75cm自由跌落測(cè)試5.防水防塵等級(jí)認(rèn)證:依據(jù)IEC60529完成IP68級(jí)6m水深30分鐘浸沒測(cè)試檢測(cè)范圍1.特種光學(xué)鏡頭組件:含非球面鏡組,、

參考周期:常規(guī)試驗(yàn)7-15工作日,,加急試驗(yàn)5個(gè)工作日。

注意:因業(yè)務(wù)調(diào)整,暫不接受個(gè)人委托測(cè)試,望諒解(高校,、研究所等性質(zhì)的個(gè)人除外),。

檢測(cè)項(xiàng)目

1.光學(xué)分辨率測(cè)試:采用ISO12233標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)板驗(yàn)證線對(duì)值(LW/PH),要求≥3000LW/PH@24MP傳感器
2.透光率與色差分析:使用分光光度計(jì)測(cè)量鏡片380-780nm波段透光率≥95%,,ΔE≤1.5
3.高溫耐久試驗(yàn):依據(jù)GB/T2423.2執(zhí)行85℃2℃/500h老化測(cè)試后功能正常
4.抗沖擊性能驗(yàn)證:參照MIL-STD-810H方法516.6實(shí)施75cm自由跌落測(cè)試
5.防水防塵等級(jí)認(rèn)證:依據(jù)IEC60529完成IP68級(jí)6m水深30分鐘浸沒測(cè)試

檢測(cè)范圍

1.特種光學(xué)鏡頭組件:含非球面鏡組,、紅外鍍膜鏡片及液態(tài)鏡頭模組
2.高功率閃光燈系統(tǒng):涵蓋氙氣脈沖燈管與LED陣列光源裝置
3.CMOS/CCD圖像傳感器:包括背照式傳感器及全局快門芯片組
4.鎂合金/碳纖維外殼:涉及表面陽極氧化層厚度(15-25μm)與導(dǎo)熱系數(shù)(≥90W/mK)
5.三腳架云臺(tái)系統(tǒng):承重能力≥25kg的液壓云臺(tái)與碳纖維支腿組件

檢測(cè)方法

1.ASTME259-20《鏡面光澤度標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量方法》用于表面反射率測(cè)定
2.ISO9022-11:2015《光學(xué)系統(tǒng)環(huán)境試驗(yàn)-霉菌生長(zhǎng)》評(píng)估濕熱環(huán)境適應(yīng)性
3.GB/T26125-2019《電子電氣產(chǎn)品有害物質(zhì)限制要求》管控RoHS六項(xiàng)指標(biāo)
4.IEC61000-4-2:2008《電磁兼容-靜電放電抗擾度》驗(yàn)證8kV接觸放電防護(hù)能力
5.JJF1076-2020《數(shù)字照相機(jī)光電性能校準(zhǔn)規(guī)范》標(biāo)定動(dòng)態(tài)范圍與信噪比

檢測(cè)設(shè)備

1.KonicaMinoltaCS-2000A分光輻射度計(jì):測(cè)量精度0.3%,,支持0.001cd/m低亮度分析
2.Instron5967萬能材料試驗(yàn)機(jī):最大載荷30kN,,配備DIC非接觸應(yīng)變測(cè)量模塊
3.ThermotronSM-32C溫濕度箱:溫度范圍-70℃~180℃,,濕度控制精度1%RH
4.OphirVega激光功率計(jì):波長(zhǎng)范圍0.19-11μm,最大功率測(cè)量200W
5.EMTESTUCS500N6脈沖群發(fā)生器:滿足IEC61000-4-4Level4測(cè)試需求
6.KeyenceVHX-7000數(shù)字顯微鏡:5000倍超景深觀測(cè)鏡頭鍍膜缺陷
7.FLIRX8580紅外熱像儀:12801024分辨率,,測(cè)溫范圍-40℃~2000℃
8.AgilentN9020B頻譜分析儀:頻率范圍3Hz至26.5GHz,,RBW最小1Hz
9.BrukerContourGT-X3白光干涉儀:垂直分辨率0.1nm,用于鏡面平整度測(cè)量
10.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光譜儀:532nm/785nm雙激光源配置

北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所【簡(jiǎn)稱:中析研究所】

報(bào)告:可出具第三方檢測(cè)報(bào)告(電子版/紙質(zhì)版),。

檢測(cè)周期:7~15工作日,,可加急。

資質(zhì):旗下實(shí)驗(yàn)室可出具CMA/CNAS資質(zhì)報(bào)告,。

標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試:嚴(yán)格按國(guó)標(biāo)/行標(biāo)/企標(biāo)/國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),。

非標(biāo)測(cè)試:支持定制化試驗(yàn)方案。

售后:報(bào)告終身可查,,工程師1v1服務(wù),。

中析儀器 資質(zhì)

中析高能攝影器材檢測(cè) - 由于篇幅有限,僅展示部分項(xiàng)目,,如需咨詢?cè)敿?xì)檢測(cè)項(xiàng)目,,請(qǐng)咨詢?cè)诰€工程師

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